返回首页
苏宁会员
购物车 0
易付宝
手机苏宁

服务体验

店铺评分与同行业相比

用户评价:----

物流时效:----

售后服务:----

  • 服务承诺: 正品保障
  • 公司名称:
  • 所 在 地:
本店所有商品

  • [M]片上系统测试设计与优化-9787030769183
  • 本书获得了众多专家的推荐或权威评价,许多业内人士和读者纷纷表示它是一部不可错过的佳作。
    • 作者: (瑞典)埃里克·拉森著;孙仁杰译著
    • 出版社: 科学出版社
    • 出版时间:2024-01-01 00:00:00
    送至
  • 由""直接销售和发货,并提供售后服务
  • 加入购物车 购买电子书
    服务

    看了又看

    商品预定流程:

    查看大图
    /
    ×

    苏宁商家

    商家:
    儒源图书专营店
    联系:
    • 商品

    • 服务

    • 物流

    搜索店内商品

    商品分类

    商品参数
    • 作者: (瑞典)埃里克·拉森著;孙仁杰译著
    • 出版社:科学出版社
    • 出版时间:2024-01-01 00:00:00
    • 版次:1
    • 字数:368000
    • 页数:328
    • 开本:其他
    • 装帧:平装
    • ISBN:9787030769183
    • 国别/地区:中国
    • 版权提供:科学出版社
    本书旨在讨论片上系统(SoC)测试的相关问题,包括建模以及片上系统测试解决方案的设计和优化。需要测试的系统越来越复杂,测试数据量不断增加,如何组织测试,即测试调度变得越来越重要。本书主要站在系统级的角度阐明模块化SoC测试领域的诸多问题。本书由三部分组成,在概述经典测试方法的基础上,介绍测试大型、模块化和异构SoC面临的挑战和困难,并详细介绍作者团队为克服上述困难所做的研究工作。本书可供电子科学与技术、微电子工程、计算机工程与技术等专业师生阅读,也可作为软件测试领域从业者的参考用书。

    售后保障

    最近浏览

    猜你喜欢

    该商品在当前城市正在进行 促销

    注:参加抢购将不再享受其他优惠活动

    x
    您已成功将商品加入收藏夹

    查看我的收藏夹

    确定

    非常抱歉,您前期未参加预订活动,
    无法支付尾款哦!

    关闭

    抱歉,您暂无任性付资格

    此时为正式期SUPER会员专享抢购期,普通会员暂不可抢购