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  • [M]固态表面、界面与薄膜 第6版-9787040478549
  • 本书获得了众多专家的推荐或权威评价,许多业内人士和读者纷纷表示它是一部不可错过的佳作。
    • 作者: Hans Lüth 著,王聪、孙莹、王蕾著
    • 出版社: 高等教育出版社
    • 出版时间:2019-04-01
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    • 作者: Hans Lüth 著,王聪、孙莹、王蕾著
    • 出版社:高等教育出版社
    • 出版时间:2019-04-01
    • 页数:585
    • 开本:16开
    • ISBN:9787040478549
    • 版权提供:高等教育出版社
    本书从实验和理论两方面探讨了表面与界面的物理问题。除了探讨真正意义上的固态表面与界面的制备技术外,还重点探讨了界面的结构、振动态及电学性质的基本物理模型,也涉及表面吸附与薄膜层状生长的基本问题。由于现代微电子学的重要性,本书还特别强调了半导体界面和异质结的电学性质。在实验方面,本书的另一大特点是通过一系列“附录”的形式讲述了超高真空、电子光学、表面谱学和界面电学等表征技术方面的基础知识,为读者提供了快速、全面了解现代各种表面、界面表征技术的重要信息。
    在早期版本中,表面和薄膜的制备,原子结构、形貌,振动态与电子输运性质以及吸附的基础知识均被论及。表面和界面的电子态、半导体空间电荷层和异质结等内容由于在现代信息技术和纳米结构研究中的重要性也被重点论述。第六版增加了特殊的章节,重点描述界面和薄膜的集体耦合行为,例如超导电性和磁学,而磁学的讨论中又包括了巨磁阻和自旋矩传输机理等重要内容,这两部分内容在信息技术中均具有重要价值。此外还首次讨论了自旋轨道耦合对于表面态的影响,也讨论了近来研究较热的、对自旋电子学具有重要价值的拓扑绝缘体材料,专门论述了满足严格定义的自旋取向的新型拓扑保护表面态,尤其是补充了在早期版本中被忽略的一些重要的、成熟的实验技术,例如X射线衍射(XRD)、各向异性反射光谱(RAS)等。

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