- 商品参数
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- 作者:
张兆隆,张晓芳 主编著
- 出版社:机械工业出版社
- 出版时间:2015-11-01 00:00:00
- 版次:1
- 印次:1
- 印刷时间:2015-11-01
- 开本:16开
- 装帧:平装
- ISBN:9787111517085
- 版权提供:机械工业出版社
张兆隆、张晓芳主编的《公差配合与测量技术》是根据高等职业教育培养目标和教学要求,并参照国家近期新相关标准编写的。全书分基础篇和技能篇两部分,基础篇包括绪论、尺寸公差与配合、几何公差、表面结构,共4章;技能篇包括测量技术基础、孔轴尺寸测量、几何误差检测、典型机械产品精度检测、专用量具检测设计,共5章。
本书侧重于基本概念的讲解和标准的应用,同时注重理论联系实际,在各章末配置有习题,部分章节还配置有实训项目、综合训练,旨在强化基础的同时培养学生的操作技能。本书可作为高职院校机械类和机电类专业的教学用书,也可作为企业相关人员的培训和自学用书。