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编者:赵万良//王有波//张晓慧|责编:彭晨光//朱琳琳著
- 出版社:中国宇航出版社
- ISBN:9787515919096
- 版权提供:中国宇航出版社
本书对宇航用FPGA及其可靠性的相关技术进行了介绍,包括FPGA芯片制造技术,可靠性设计通用技术,抗单粒子翻转技术,FPGA检错、容错、纠错技术,FPGA重配置技术,FPGA的测试流程与测试方法等。
本书主要面向从事航天及相关领域研究的科研工作者和高校师生,可在FPGA的理论研究、设计开发、可靠性研究以及宇航应用等方面为读者提供借鉴与参考。