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- 作者:
张玉强著
- 出版社:黑龙江大学出版社
- 出版时间:2024-05-01 00:00:00
- 版次:1
- 印次:1
- 印刷时间:2024-05-01
- 页数:72
- 开本:16开
- 装帧:平装
- ISBN:9787568610254
- 国别/地区:中国
- 版权提供:黑龙江大学出版社
本书从介观物理的视角入手,在已有的介观量子理论的基础上,采用正则变换、幺正变换、广义Helhnann-Feynman定理以及Lewis-Riesenfeld不变量理论等方法深入分析和研究了耗散介观耦合电路中的量子涨落、介观电感耦合电路中的能量涨落、介观耦合电路中的库仑阻塞效应以及热态下介观电感耦合电路中的不确定关系等问题,找出影响介观电路中量子效应的因素,然后对结果进行分析和比较,得出结论,从而为微电路及器件的进一步优化设计、集成电路中的硬件更新及其在相关领域的应用提供有益的理论基础。本书将会对相关领域的研究者提供借鉴与参考。