- 商品参数
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- 作者:
许献国,曾超著
- 出版社:哈尔滨工业大学出版社
- 出版时间:2023-05-01 00:00:00
- 版次:1
- 印次:1
- 印刷时间:2023-05-01
- 字数:487000
- 页数:400
- 开本:16开
- 装帧:平装
- ISBN:9787576705409
- 国别/地区:中国
- 版权提供:哈尔滨工业大学出版社
本书系统性地介绍辐射对电子学系统的损伤机制、研究方法和加固技术。第1~3章介绍辐射环境、辐射与物质的相互作用,以及电子元器件的辐射效应;第4~6章介绍多物理响应与多物理场作用、辐射效应的试验与测试,以及辐射环境与辐射效应的计算与仿真;第7章和第8章介绍电子学系统抗辐射加固技术与抗辐射性能评估。附录提供了常用的辐射效应数据以便查询。
本书适合辐射效应与加固技术相关专业高年级本科生和研究生使用,也可供相关工程技术人员和科研人员参考。