- 商品参数
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- 作者:
(巴西)费尔南达·利马·卡斯腾斯密得,路易吉·卡罗,里卡多·赖斯著|
杨孟飞译
- 出版社:中国宇航出版社
- 开本:32
- ISBN:9782867354303
- 出版周期:旬刊
- 版权提供:中国宇航出版社
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基于SRAM的FPGA容错技术
作 者:(巴西)费尔南达·利马·卡斯腾斯密得 (巴西)路易吉·卡罗 (巴西)里卡多·赖斯 著作 杨孟飞 龚健 文亮 等 译者
定 价:45
出 版 社:中国宇航出版社
出版日期:2009年12月01日
页 数:188
装 帧:精装
ISBN:9787802186187
●第1章 引言
●第2章 集成电路中的辐射效应
●2.1 辐射环境概述
●2.2 集成电路中的辐射效应
●2.2.1 SEU的分类
●2.3 基于SRAM的FPGA的特有影响
●
●第3章 单粒子翻转(SEU)减缓技术
●3.1 基于设计的技术
●3.1.1 检测技术
●3.1.2 减缓技术
●3.2 ASIC中SEU减缓技术实例
●3.3 FPGA中SEU减缓技术实例
●3.3.1 基于反熔丝的FPGA
●3.3.2 基于SRAM的FPGA
●
●第4章 结构层SEU减缓技术
●第5章 高层SEU减缓技术
●5.1 针对FPGA的三模冗余技术
●5.2 刷新......
内容简介
《基于SRAM的FPGA容错技术》内容简介:广泛应用于民用和工业领域的基于SRAM的FPGA,因其逻辑集成度高、使用方便、开发成本低且能够被重新编程,正逐步应用于空间领域。空间领域的应用除了要求其具有很高的可靠性以外,抗辐射是必须重点考虑的问题。《基于SRAM的FPGA容错技术》针对这种需求,尤其是针对空间环境中单粒子效应的影响,详细介绍了基于SRAM的FPGA这种可编程结构的多种容错技术和方法。
《基于SRAM的FPGA容错技术》提及的技术和方法多是从实际容错系统中总结出来的,并进行了归类、分析和总结,同时附有参考文献。内容详尽丰富,实践性和针对性强,可作为从事容错计算和空间电子系统研究和设计人员的参考用书。
(巴西)费尔南达·利马·卡斯腾斯密得 (巴西)路易吉·卡罗 (巴西)里卡多·赖斯 著作 杨孟飞 龚健 文亮 等 译者
费尔南达·古斯芒·德·利马·卡斯腾斯密得,是位于巴西阿雷格里港(Porlto Alegre)的南大河洲联邦大学(UFRGS)计算机科学系的教授。1997年,她从巴西阿雷格里港南大河洲联邦大学获电气工程学学士学位,1999年和2003年分别获计算机科学硕士学位和微电子学博士学位。1999年,她曾工作于法国的格勒诺布尔(Grenoble)国家理工学院(INPG);2001年,工作于美国圣何塞(San Jose)的赛灵思(Xilinx)公司。她的研究兴趣包括超大规模集成电路(VLSI)测试和设计、故障效应、容错技术和可编程结构。她是美国电气和电子工程师协会(IEEE)的会员。
容错技术的开发与目标器件紧密相关,需要详细分析相关系统结构中的翻转效应。对于每一种电路,有其很适合的解决方法。在过去的几年中,集成电路工业为了追求更好的性能、更高的逻辑密度和更低的成本而使其结构越来越复杂,例如应用专用集成电路(ASIC),有数百万个晶体管的微处理器,高密度现场可编程门阵列(FPGA)组件以及近期新的由嵌入式微处理器、存储器和模拟电路块组成的片上系统(SOC)。这些在单一芯片上提供大量信息处理能力的结构,给系统设计带来了重大的影响。它们的用途涵盖了广泛的应用领域,从便携系统到专用嵌入控制单元和计算机,尤其是FP-GA增加的重配置特性是系统设计的一项重要改进,它缩短了系统的上市时间并增加了设计的灵活性。
很近几年,一系列事件使。FPGA的市场份额不断扩大,如图1-1所示。几......
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