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醉染图书系统测试设计分析与验9787810772976
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章 绪 论
1.1 故障、诊断与测试的基本概念
1.1.1 故障及其后果
1.1.2 故障诊断
1.1.3 测试和机内测试
1.1.4 综合诊断
1.2 测试及诊断技术的发展
1.2.1 由外部测试到机内测试
1.2.2 测试成为一门独立的学科
1.. 综合诊断、人工智cAD的应用
1.2.4 国内测试发展现状
1.3 测试/BIT对系统的影响
1.3.1 对维修的影响
1.3.2 对可靠的影响
1.3.3 对可用和战备完好的影响
1.3.4 对寿命周期费用的影响
1.3.5 测试/BIT影响分析实例
1.4 常用测试与诊断术语
习 题
第2章 测试和诊断参数
2.1 概述
2.2 参数定义及说明
2.2.1 故障检测率
2.2.2 关键故障检测率
2.. 故障隔离率
2.2.4 虚警率
2.2.5 故障检测时间
2.2.6 故障隔离时间
2.2.7 系统的故障检测率和隔离率
2.2.8 不能复现率
2.2.9 台检可工作率
2.2.10 重测合格率
2.2.11 误拆率
2.2.12 BIT/ETE可靠
2.2.13 BIT/ETE维修
2.2.14 BIT/ETE平均有效运行时间
2.2.15 虚警与(2ND及RTOK的关系
习题
第3章 测试设计与管理工作概述
3.1 测试工作项目及说明
3.1.1 测试工作项目
3.1.2 测试工作项目说明
3.1.3 测试与专业工程的接口
3.2 系统各研制阶段的测试工作
3.2.1 要求和指标论阶段
3.2.2 方案论和确认阶段
3.. 工程研制阶段
3.2.4 生产阶段和使用阶段
3.3 测试设计的目标和内容
3.3.1 设计目标
3.3.2 设计内容
3.4 测试设计工作流程
3.4.1 各研制阶段测试工作流程
3.4.2 与系统功能和特设计并行的测试设计流程
3.4.3 多级测试设计流程
3.4.4 UUT测试与诊断设计流程
3.5 测试设计工作的评价与度量
3.5.1 测试设计分析报告
3.5.2 测试与诊断有效评
3.5.3 产品对使用要求的符合评
习 题
第4章 测试与诊断要求
4.1 概述
4.2 确定测试与诊断要求依据分析
4.2.1 任务要求分析
4.2.2 系统构成特分析
4.. 使用和保障要求分析
4.2.4 可利用新技术分析
4.3 测试与诊断要求的内容
4.3.1 嵌入式诊断要求
4.3.2 外部诊断要求
4.3.3 测试与诊断定要求
4.3.4 测试与诊断定量要求
4.4 系统与产品的测试要求
4.4.1 系统测试要求
4.4.2 产品测试要求
4.5 确定测试指标的程序和方法
4.5.1 确定测试要求的程序
4.5.2 测试参数的选择
4.5.3 测试与可靠、维修间的权衡分析
4.5.4 用类比法确定测试指标
4.5.5 初定指标的分析检验
4.6 诊断指示正确和BIT影响分析
4.6.1 BIT对可靠影响分析
4.6.2 BIT对维修影响分析
4.6.3 诊断指示正确分析
4.7 测试/诊断规范示例
4.7.1 初步系统测试规范
4.7.2 系统测试规范
4.7.3 CI测试研制规范
习 题
第5章 故障诊断方案
5.1 诊断方案的制定程序
5.2 候选诊断方案
5.2.1 确定诊断方案的依据
5.2.2 诊断方案组成要素
5.. 候选诊断方案的确定
5.3 诊断方案的选择
5.4 权衡分析
5.4.1 定权衡分析
5.4.2 定量权衡分析
5.5 费用分析
5.5.1 故障诊断子系统费用模型
5.5.2 BIT寿命周期费用增量模型
5.5.3 简单费用分析举例
习 题
第6章 测试与诊断要求分配
6.1 概述
6.1.1 测试分配的指标
6.1.2 进行测试分配工作的时间
6.1.3 测试分配工作的输入和输出
6.1.4 测试分配的模型和要求
6.2 等值分配法和经验分配法
6.2.1 等值分配法
6.2.2 经验分配法
6.3 按系统组成单元的故障率分配法
6.4 加权分配法
6.5 综合加权分配法
6.5.1 测试分配模型和工作程序
6.5.2 综合主要影响因素的加权分配方法
6.5.3 只考虑复杂度时的分配方法
6.5.4 只考虑重要度时的分配方法
6.6 有部分老产品时的分配方法
6.7 优化分配方法
6.7.1 优化分配的数学模型
6.7.2 解法介绍
6.7.3 算法及步骤
6.7.4 目标函数和约束函数的选择
6.7.5 应用举例
习题
第7章 固有测试设计与评价
7.1 固有测试设计
7.1.1 划 分
7.1.2 功能和结构设计
7.1.3 初始化
7.1.4 测试控制
7.1.5 测试观测
7.1.6 元器件选择
7.1.7
7.2 测试设计准则
7.2.1 功能结构设计
7.2.2 功能划分
7.. 测试控制
……
第8章 测试点与诊断策略
第9章 测试/BIT设计技术
0章 BIT虚警问题及降低虚警率方法
1章 系统测试与诊断的外部接口
2章 测试预计
3章 测试验与评价
附录
常用英文缩略语
参考文献
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