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  • 醉染图书系统级封装导论9787122194060
  • 正版全新
    • 作者: Rao R. Tummala著 | Rao R. Tummala编 | Rao R. Tummala译 | Rao R. Tummala绘
    • 出版社: 化学工业出版社
    • 出版时间:2014-07-01
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    • 作者: Rao R. Tummala著| Rao R. Tummala编| Rao R. Tummala译| Rao R. Tummala绘
    • 出版社:化学工业出版社
    • 出版时间:2014-07-01
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 字数:782000
    • 页数:557
    • 开本:16开
    • ISBN:9787122194060
    • 版权提供:化学工业出版社
    • 作者:Rao R. Tummala
    • 著:Rao R. Tummala
    • 装帧:平装
    • 印次:1
    • 定价:198.00
    • ISBN:9787122194060
    • 出版社:化学工业出版社
    • 开本:16开
    • 印刷时间:暂无
    • 语种:暂无
    • 出版时间:2014-07-01
    • 页数:557
    • 外部编号:1200897660
    • 版次:1
    • 成品尺寸:暂无

    章  系统级封装技术介绍
    1.1引言
    1.2系统数据集成趋势
    1.3系统组成部分
    1.4系统技术演变
    1.55个主要的系统技术
    1.5.1分立式器件的SOB技术
    1.5.2在单芯片上实现两个或多系统功能的SOC技术
    1.5.3多芯片模块(MCM):两个或多个芯片水平互连封装集成
    1.5.4堆叠式IC和封装(SIP):两个或多个芯片堆叠封装集成(3D Moore定律)
    1.6系统级封装技术(优选的IC和系统集成模块
    1.6.1概述
    1.6.2微型化趋势
    1.75个系统技术的比较
    1.8SOP优选发展状况
    1.8.1光学
    1.8.2频
    1.8.3嵌入式无源
    1.8.4M
    1.9SOP技术实施
    1.10SOP技术
    1.11总结
    参考文献
    第2章  片上系统(SOC)简介
    2.1引言
    2.2关键客户需求
    .SOC架构
    2.4SOC设计挑战
    2.4.1SOC设计阶段1――SOC定义与挑战
    2.4.2SOC设计阶段2――SOC创建过程与挑战
    2.5总结
    参考文献
    第3章  堆叠式IC和封?
    3.1SIP定义
    3.1.1定义
    3.1.2应用
    3.1.3SIP的主要发展图和分类
    3.2SIP面临的挑战
    3.2.1材料和工艺流程问题
    3.2.2机械问题
    3..电学问题
    3.2.4热学问题
    3.3非TSV SIP技术
    3.3.1非TSV SIP的历史变革
    3.3.2芯片堆叠
    3.3.3封装堆叠
    3.3.4芯片堆叠与封装堆叠
    3.4TSV SIP技术
    3.4.1引言
    3.4.2三维TSV技术的历史演变
    3.4.3基本的TSV技术
    3.4.4采用TSV的各种三维集成技术
    3.4.5硅载片技术
    3.5未来趋势
    参考文献
    第4章  混合信号(SOP)设计
    4.1引言
    4.1.1混合信号器件与系统
    4.1.2移动应用集成的重要
    4.1.3混合信号系统架构
    4.1.4混合信号设计的挑战
    4.1.5制造技术
    4.2用于RF前端的嵌入式无源器件设计
    4.2.1嵌入式电感
    4.2.2嵌入式电容
    4..嵌入式滤波器
    4.2.4嵌入式平衡-非平衡转换器
    4.2.5滤波器-Balun网络
    4.2.6可调谐滤波器
    4.3芯片-封装协同设计
    4.3.1低噪声放大器设计
    4.3.2并发振荡器设计
    4.4无线局域网的RF前端模块设计
    4.5设计工具
    4.5.1嵌入式RF电路尺寸设计
    4.5.2信号模型和电源传送网络
    4.5.3有理函数、网络合成与瞬态
    4.5.4生产设计
    4.6耦合
    4.6.1模拟-模拟耦合
    4.6.2数字-模拟耦合
    4.7去耦合
    4.7.1数字应用中去耦的需要
    4.7.2贴片电容的问题
    4.7.3嵌入式去耦
    4.7.4嵌入式电容的特征
    4.8电磁带隙(EBG)结构
    4.8.1EBG结构分析与设计
    4.8.2EBG在抑制电源噪声方面的应用
    4.8.3EBG的辐分析
    4.9总结
    参考文献
    第5章  频系统级封装(RF
    5.1引言
    5.2RF SOP概念
    5.3RF封装技术的历史演变
    5.4RF SOP技术
    5.4.1建模与优化
    5.4.2RF基板材料技术
    5.4.3天线
    5.4.4电感器
    5.4.5RF电容器
    5.4.6电阻
    5.4.7滤波器
    5.4.8平衡-不平衡变换器
    5.4.9组合器
    5.4.10RF MEMS开关
    5.4.11标签(RF)技术
    5.5RF模块集成
    5.5.1无线局域网(
    5.5.2智能网络传输器
    5.6未来发展趋势
    参考文献
    第6章  集成芯片到芯片的光系统级封装
    6.1引言
    6.2光系统级封装(SOP)的应用
    6.2.1高速数字系统与高能计算
    6.2.2RF-光学通信系统
    6.3薄层光SOP的挑战
    6.3.1光学对准
    6.3.2薄膜光学波导材料的关键物理和光学特
    6.4光系统级封装的优点
    6.4.1高速电气与光学线路的能对比
    6.4.2布线密度
    6.4.3功率损耗
    6.4.4可靠
    6.5光系统级封装(SOP)技术的发展
    6.5.1板-板光学布线
    6.5.2芯片-芯片光互连
    6.6光SOP薄膜元件
    6.6.1无源薄膜光波电路
    6.6.2有源光SOP薄膜器件
    6.6.3三维光波电路的良机
    6.7SOP集成:界面光学耦合
    6.8芯片上的光学电路
    6.9光SOP的未来趋势
    6.10总结
    参考文献
    第7章  内嵌多层布线和薄膜元件的SOP基板
    7.1引言
    7.2基板集成技术的历史演变
    7.3SOP基板
    7.3.1动力与挑战
    7.3.2嵌入低介电常数的电介质、芯体与导体的超薄膜布线
    7.3.3嵌入式无源器件
    7.3.4嵌入式有源器件
    7.3.5散热材料和结构的微型化
    7.4SOP基板集成的未来
    参考文献
    第8章  混合信号SOP可靠
    8.1系统级可靠注意事项
    8.1.1失效机制
    8.1.2为可靠而设计
    8.1.3可靠验
    8.2多功能SOP基板的可靠
    8.2.1材料和工艺可靠
    8.2.2数字功能可靠与验
    8..频功能可靠及验
    8.2.4光学功能可靠及验
    8.2.5多功能系统稳定
    8.3基板与IC的互连可靠
    8.3.1影响基板与集成电路互连可靠的因素
    8.3.2100μm倒装芯片组装可靠
    8.3.3防止芯片开裂的可靠研究
    8.3.4焊点可靠
    8.3.5界面黏结和湿气对底部填料可靠的影响
    8.4未来的趋势和发展方向
    8.4.1发展焊料
    8.4.2柔互连
    8.4.3焊料和纳米互连之外的选择
    8.5总结
    参考文献
    第9章  MEMS封装
    9.1引言
    9.2MEMS封装中的挑战
    9.3芯片级与晶圆级封装的对比
    9.4晶圆键合技术
    9.4.1直接键合
    9.4.2利用中间层键合
    9.5基于牺牲薄膜的密封技术
    9.5.1刻蚀牺牲层材料
    9.5.2牺牲层聚合物的分解
    9.6低损耗聚合物封装技术
    9.7吸气剂技术
    9.7.1非挥发吸气剂
    9.7.2薄膜吸气剂
    9.7.3使用吸气剂提高MEMS可靠
    9.8互连
    9.9组装
    9.10总结和展望
    参考文献
    0章  晶圆级
    10.1引言
    10.1.1定义
    10.1.2晶圆级封装――历史进程
    10.2布线形成与再分布
    10.2.1IC封装间距间隙
    10.2.2硅上再分布层关闭间距间隙
    10.3晶圆级薄膜嵌入式元件
    10.3.1再分布层中的嵌入式薄膜元件
    10.3.2硅载体基板上的嵌入式薄膜元件
    10.4晶圆级封装和互连
    10.4.1WLPI的分类
    10.4.2WLSOP装配
    10.5三维WLSOP
    10.6晶圆级检测及老化
    10.7总结
    参考文献
    1章  系统级封装(SOP)散热
    11.1SOP散热基础
    11.1.1SOP热影响
    11.1.2基于SOP便携式产品的系统级热约束
    11.2SOP模块内热源
    11.2.1数字
    11.2.2
    11..光
    11.2.4ME
    11.3传热模式基础
    11.3.1传导
    11.3.2对流
    11.3.3辐换热
    11.4热分析原理
    11.4.1热分析数值方法
    11.4.2热分析的实验方法
    11.5热管理技术
    11.5.1概述
    11.5.2热设计技术
    11.6功率化方法
    11.6.1并行处理
    11.6.2动态电压和频率调节(DVFS)
    11.6.3专用处理器(ASP)
    11.6.4缓存功率优化
    11.6.5功率管理
    11.7总结
    参考文献
    2章  系统级封装(SOP)模块及系统的电测试
    12.1SOP电测试面临的挑战
    12.1.1HVM测试过程的目标以及SOP面临的挑战
    12.1.2SOP HVM的测试流程
    12.2KGES测试
    12.2.1基板互连测试
    12.2.2嵌入式无源元件的测试
    1.数字子系统的优质嵌入式模块测试
    1..1边界扫描――IEEE
    1..2千兆赫数字测试:近期新进展
    12.4混合信号和RF子系统的KGEM测试
    12.4.1测试策略
    12.4.2故障模型和检测质量
    12.4.3使用专用电路对规范参数的直接测量
    12.4.4混合信号和RF电路的替代测试方法
    12.5总结
    参考文献
    3章  生物传感器
    13.1引言
    13.1.1SOP:高度小型化的系统技术
    13.1.2用于小型化生物医疗植入物和传感系统的生物传感器
    13.1.3生物传感器SOP组成
    13.2生物传感
    13.2.1生物流体传送微通道
    13.2.2生物感应单元(探针)设计和制备
    13..探针-目标分子杂交
    13.3信号转换
    13.3.1信号转换元件中的纳米材料和纳米结构
    13.3.2信号转换元件的表面改和物功能化
    13.3.3信号转换方法
    13.4信号探测和处理
    13.4.1低功率ASIC和生物SOP的合成信号设计
    13.4.2生物SOP基板集成技术
    13.5总结和未来趋势
    13.5.1概述
    13.5.2纳米生物SOP集成的挑战
    参考文献
    缩略语

    拉奥·R.图马拉(Rao R.Tummala),佐治亚理工学院微系统封装研究中心的创办者,特聘教授、讲座教授。他是前IBM院士,是美国电气和协会(IEEE)下的组件封装与制造技术学会(CPMT)和靠前微与封装协会(IMAPS)前,IEEE会士,美国工程院和印度工程院院士。Tummala博士获得过多项工业界、学术界和专业机构的将项,其中包括作为全美50大杰出者之一获得工业周刊的奖项。他著有5本专业书籍,发表专业425篇,72项和发明。
    马达范·斯瓦米纳坦(Madhavan Swaminathan),佐治亚理工学院电气和计算机工程学院学约瑟·佩蒂特教授,微系统封装研究中心副主任。他是Jacket Micro Devices公司创始人之一,集成频模块和基板的无线应用研究领域领头人,SoPWorXW公司(致力于系统级封装应用的化软件设计)优选者。加入佐治亚理工学院之前,他曾在IBM研究不错计算机的封装。目前已经发表了300多篇著作,拥有15项并荣膺成为IEEE会士。

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