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  • 全新正版航天互联技术(精)9787515910789中国宇航
    • 作者: 编者:潘江桥//周德祥著 | 编者:潘江桥//周德祥编 | 编者:潘江桥//周德祥译 | 编者:潘江桥//周德祥绘
    • 出版社: 中国宇航出版社
    • 出版时间:2015-12-01
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    • 作者: 编者:潘江桥//周德祥著| 编者:潘江桥//周德祥编| 编者:潘江桥//周德祥译| 编者:潘江桥//周德祥绘
    • 出版社:中国宇航出版社
    • 出版时间:2015-12-01
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 印刷时间:2015-12-01
    • 开本:16开
    • ISBN:9787515910789
    • 版权提供:中国宇航出版社
    • 作者:编者:潘江桥//周德祥
    • 著:编者:潘江桥//周德祥
    • 装帧:暂无
    • 印次:1
    • 定价:168.00
    • ISBN:9787515910789
    • 出版社:中国宇航
    • 开本:16开
    • 印刷时间:2015-12-01
    • 语种:暂无
    • 出版时间:2015-12-01
    • 页数:暂无
    • 外部编号:3443146
    • 版次:1
    • 成品尺寸:暂无

    章 概述
    1.1 航天互联的概念
    1.2 航天互联技术在航天制造技术领域的地位和作用
    1.3 航天互联的发展简史
    1.4 航天互联的技术展望
    第2章 单片集成电路封装技术
    2.1 概述
    2.2 单片集成电路封装原材料
    2.2.1 引线键合封装工艺原材料
    2.2.2 CBGA/CCGA封装工艺原材料
    2.. 倒装焊芯片封装工艺原材料
    . 单芯片封装技术
    ..1 内部互联
    ..2 外部互联
    2.4 集成电路封装设计
    2.4.1 封装设计概述
    2.4.2 封装设计内容
    2.5 单片集成电路试验与检测
    2.5.1 单片集成电路封装工艺过程检测
    2.5.2 单片集成电路成品检验试验
    2.5.3 单片集成电路可靠验
    2.6 单片集成电路对产品装联的影响
    2.6.1 集成电路内部互联材料对电装过程中焊接温度的要求
    2.6.2 各种封装形式对产品装联的影响
    2.7 典型故障
    2.7.1 芯片粘接系统失效
    2.7.2 互联系统失效
    2.7.3 内部多余物引起的失效
    2.7.4 电路封装的典型缺陷分析
    2.8 航天特殊要求及禁忌
    2.9 展望
    2.9.1 面向高密度发展
    2.9.2 面向系统级封装(SiP)技术的发展
    2.9.3 从单芯片封装(Single Chip Package,SCP)向多芯片组件(MCM)发展
    2.9.4 面向三维(Three Dimension,3D)微组装技术的发展
    参考文献
    第3章 混合集成电路互联技术
    3.1 概述
    3.2 混合集成电路封装原材料
    3.2.1 基板材料
    3.2.2 导体材料
    3.. 介质材料
    3.2.4 封装材料
    3.3 混合集成电路基板制备技术
    3.3.1 低/高温共烧陶瓷基板制备工艺
    3.3.2 混合集成电路薄/厚膜制备工艺
    3.4 混合集成电路的组装
    3.4.1 混合集成电路的组装工艺流程
    3.4.2 混合集成电路的组装工艺技术
    3.4.3 多余物控制技术
    3.4.4 混合集成电路水汽控制与检测
    3.5 混合集成电路试验与检测
    3.5.1 混合集成电路封装工艺在线检测
    3.5.2 混合集成电路试验
    3.6 典型故障
    3.6.1 大腔体外壳平行缝焊漏气问题
    3.6.2 电容立碑失效
    3.7 混合集成电路对产品装联的影响
    3.8 航天特殊要求及禁忌
    3.9 展望
    参考文献
    第4章 微波组件组装技术
    4.1 概述
    ……
    第5章 印制电路板制造技术
    第6章 印制电路板组装件互联技术
    第7章 整机装联技术
    第8章 互联可靠分析与验
    第9章 航天产品数字化制造技术
    参考文学
    附录 缩略语

    售后保障

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