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全新正版FPG芯设计与测试技术研究9787567992苏州大学出版社
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第1章绪论/1
1.1研究背景/3
1.1.1 FPGA分类及特点 /3
1.1.2FPGA国内外发展概况/5
1.2FPGA研究的目标和意义/7
1.3本书主要工作/9
第2章CLB、IOB及布线设计/11
2.1可编程逻辑块设计/13
2.1.1FPGA高能查找表的设计与实现/13
2.1.2CLB算术逻辑及快速进位链的设计/20
2.2输入输出接口设计/27
2.2.1Ⅰ/0接口简介/27
2.2.2可编程I/0接口的原理与设计/28
.布线结构设计和层构扩展技术/36
..1布线结构概述/36
..2布线结构设计 / 39
..层构设计 /41
..4层构中的开关设计 /43
..5 层构的拼接与互联 / 46
2.4本章小结/47
第3章 FPGA的配置电路设计 /49
3.1基于JTAG的FPGA配置电路/51
3.1.1基于JTAG的配置过程/51
FPGA可分为基于SRAM技术、基于反熔丝技术和基于FLASH EPROM技术等几种类型,目前应用多的是基于SRAM的FPGA。本书围绕基于SRAM的FPGA,基于岛状的架构,对FPGA的各个模块进行了详细的分析和设计,并设计了可扩展的FPGA配置电路以及可靠全局信号网络,同时对FPGA进行了抗辐照改进设计研究。本书详细解析了FPGA内部的逻辑、布线、配置、接口、可靠设计、测试等方面的知识,涉及了FPG芯涉及的多个方面,可为从事FPG芯设计人员和FPGA应用提供了芯片内部的设计知识,提升对FPGA器件的设计和应用能力。
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