返回首页
苏宁会员
购物车 0
易付宝
手机苏宁

服务体验

店铺评分与同行业相比

用户评价:----

物流时效:----

售后服务:----

  • 服务承诺: 正品保障
  • 公司名称:
  • 所 在 地:
本店所有商品

  • 全新正版光学材料的表征9787560342795哈尔滨工业大学出版社
    • 作者: C. Richard Brundle,Charles A. Evans, Jr[主编]著 | C. Richard Brundle,Charles A. Evans, Jr[主编]编 | C. Richard Brundle,Charles A. Evans, Jr[主编]译 | C. Richard Brundle,Charles A. Evans, Jr[主编]绘
    • 出版社: 哈尔滨工业大学出版社
    • 出版时间:2014-01-01
    送至
  • 由""直接销售和发货,并提供售后服务
  • 加入购物车 购买电子书
    服务

    看了又看

    商品预定流程:

    查看大图
    /
    ×

    苏宁商家

    商家:
    如梦图书专营店
    联系:
    • 商品

    • 服务

    • 物流

    搜索店内商品

    商品参数
    • 作者: C. Richard Brundle,Charles A. Evans, Jr[主编]著| C. Richard Brundle,Charles A. Evans, Jr[主编]编| C. Richard Brundle,Charles A. Evans, Jr[主编]译| C. Richard Brundle,Charles A. Evans, Jr[主编]绘
    • 出版社:哈尔滨工业大学出版社
    • 出版时间:2014-01-01
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 印刷时间:2014-01-01
    • 页数:211
    • 开本:大32开
    • ISBN:9787560342795
    • 版权提供:哈尔滨工业大学出版社
    • 作者:C. Richard Brundle,Charles A. Evans, Jr[主编]
    • 著:C. Richard Brundle,Charles A. Evans, Jr[主编]
    • 装帧:平装
    • 印次:1
    • 定价:78.00
    • ISBN:9787560342795
    • 出版社:哈尔滨工业大学出版社
    • 开本:大32开
    • 印刷时间:2014-01-01
    • 语种:暂无
    • 出版时间:2014-01-01
    • 页数:211
    • 外部编号:8169679
    • 版次:1
    • 成品尺寸:暂无

    Preface to the Reissue ofthe Materials Characterization Series   
    Preface to Series  
    Preface to the Reissue of Characterization of Optical Materials   
    Preface 
    Contributors  
    INTRODUCTION
    PART 1 INFLUENCE OF SURFACEMORPHOLOGYAND
    MICROSTRUCTURE ON OPTICAL RESPONSE
    CHARACTERIZATION OF SURFACE ROUGHNESS
    1.1 Introduction
    1.2 WhatSurfaceRoughnessls
    1.3 HowSurfaceRoughness AffctsOpticaIMeasurements
    1.4  How Surface Roughness and ScatteringAre Measured
    1.5  Characterization ofSelected Surfaces
    1.6  Future Difections
    CHARACTERIZATION OF THE NEAR-SURFACE REGION USING POIARIZATION-SENSITIVE OPTICAL TECHNIUES
    2.1 Introduction
    2.2 Ellipsometry
    ExperimentallmplementationsofEllipsometry 29, Analysisof
    EllipsometryData
    . MicrostructuralDeterminationsfromEllipsometryData
    Temperature Dependence ofthe Opticat Properties ofSilicon   34,
    Determination ofthe Optical Functions ofGlasses Using SE   35,
    SpectroscopicEllipsometryStudiesofSi02/Si 37, Spectroscopic
    EllipsometryforComplicatedFilmStrucrures 38, Time-Resolved
    Ellipsometry 40, Single-WavelengthReal-TimeMonitoringofFilm
    Growth 41, Multiple-WavelengthReal-TimeMonitoringofFilm
    Growth 42, Infrared EllipsometryStudies ofFilm Growth
    THE COMPOSITION, STOICHIOMETRY, AND RELATED MICROSTRUCTURE OF OPTICAL MATERIALS
    3.1 Introduction
    3.2 AspectsofRamanScattering
    3.3  III-VSemiconductor Systems
    3.4 GroupIVMaterials
    3.5  Amorphous and Microcrystalline Semiconductors
    ChalcogenideGlasses 60, GroupIVMicrocrystallineSemiconductors
    3.6 Summary
    DIAMOND AS AN OPTICAL MATERIAL
    4.1 Introduction
    4.2 DepositionMethods
    4.3  0pticalPropertiesofCVD Diamond
    4.4  Defectsin CVD Diamond
    4.5  PolishingCVD Diamond
    4.6 X-rayWindow
    4.7 Summary
    PART 2 STABILITY AND MODIFICATION OF FILM AND SURFACE OPTICAL PROPERTIES
    MULTIJAYER OPTICAL COATINGS
    5.1 Introduction
    5.2 Single-LayerOpticalCoatings
    OpticaIConstants 90, CoitionMeasurementTechniques
    5.3 MultilayerOpticalCoatings
    CoitionaIAnalysis 107, SurfaceAnalyticaITechniques 108,
    MicrostructuralAnalysis ofMultilayer Optical Coatings
    5.4 StabilityofMultilayerOpticalCoatings
    5.5 Future Coitional and
    MicrostructuralAnalyticaITechniques
    CHARACTERIZATION AND CONTROL OF STRESS IN OPTICAL FILMS
    6.1 Introduction
    6.2 0rigins ofStress
    ……

    光学材料表征一书提供了关于在不同表征技术影响下理解光学材料的能与特方面的知识。表面与界面质对材料的光响应是重要的,为实现所需能在材料加工过程中对他们进行控制与修饰是必要的。《光学材料的表征》(作者布伦德尔、埃文斯、伊莎霍斯)一书集中介绍了表面形貌、微观结构及化学键是如何影响材料的光响应,它介绍了用于表征薄膜、多层结构与改表面的方法。

    售后保障

    最近浏览

    猜你喜欢

    该商品在当前城市正在进行 促销

    注:参加抢购将不再享受其他优惠活动

    x
    您已成功将商品加入收藏夹

    查看我的收藏夹

    确定

    非常抱歉,您前期未参加预订活动,
    无法支付尾款哦!

    关闭

    抱歉,您暂无任性付资格

    此时为正式期SUPER会员专享抢购期,普通会员暂不可抢购