音像基于OrCAD Capture和PSpice的模拟电路设计与(原书第2版)

译者序

原书前言

使用说明

章入门1

1.1启动Capture1

1.2创建工程2

1.3符号和元器件6

1.3.1符号7

1.3.2元器件7

1.3.3元器件搜索10

1.3.4快速放置PSpice元器件12

1.4PSpice模型应用13

1.5设计模板15

1.6设计实例16

1.7设计导出17

1.8 设计工程保存19

1.8.1设计保存19

1.8.2查找和替换文本工具19

1.8.3密码保护20

1.9本章总结20

1.10本章练习21

1.11附加库文件练习25

第2章直流工作点分析28

2.1生成网络表30

2.2显示工作点数据35

.保存工作点数据36

2.4加载工作点数据37

2.5本章练习37

第3章直流扫描分析44

3.1直流电压扫描分析45

3.2探针46

3.3本章练习49

第4章交流分析57

4.1参数设置58

4.2交流探针59

4.3本章练习60

4.3.1双T型陷波滤波器64

第5章参数扫描分析66

5.1属编辑器66

5.2本章练习70

第6章激励源编辑器83

6.1瞬态激励源设置84

6.1.1EXP指数激励源84

6.1.2Pulse脉冲激励源86

6.1.3VPWL分段线激励源87

6.1.4SIN正弦波激励源88

6.1.5SSFM单频调频激励源88

6.2自定义电压源89

6.3设置90

6.4本章练习90

第7章瞬态分析97

7.1设置97

7.2SCHEDULING设置98

7.3测试点设置98

7.4利用文本文件定义时间—电压激励源100

7.5本章练习102

第8章收敛问题和错误信息108

8.1常见错误信息108

8.2建立静态工作点109

8.3收敛问题109

8.4设置110

8.5本章练习112

第9章变压器116

9.1线变压器116

9.2非线变压器117

9.3预定义变压器118

9.4本章练习119

0章蒙特卡洛分析1

10.1设置1

10.1.1输出变量125

10.1.2运行次数125

10.1.3分布类型选择125

10.1.4随机种子数125

10.1.5数据保存形式125

10.1.6MC加载/保存126

10.1.7更多设置126

10.2元件容差设置126

10.3本章练习128

1章 坏情况分析135

11.1灵敏度分析136

11.2 坏情况分析137

11.3添加元件容差137

11.4测量函数设置138

11.5本章练习138

2章高能分析146

12.1测量函数简介146

12.2测量函数定义147

1.本章练习148

3章行为模型153

13.1行为模型153

13.2本章练习158

4章噪声分析162

14.1噪声类型162

14.1.1电阻噪声162

14.1.2半导体器件噪声162

14.2总噪声163

14.3运行噪声分析164

14.4噪声定义165

14.5本章练习167

5章温度分析172

15.1温度系数设置172

15.2运行温度分析173

15.3本章练习174

6章添加和建立PSpice模型179

16.1PSpice元器件属179

16.2PSpice模型定义181

16.3子电路183

16.4模型编辑器185

16.4.1模型复制188

16.4.2模型导入188

16.4.3模型 191

16.4.4模型加密191

16.4.5IBIS转换器193

16.5本章练习193

7章传输线204

17.1理想传输线204

17.2有损传输线206

17.3本章练习207

8章数字电路218

18.1数字器件模型218

18.2数字电路设计219

18.3数字设置220

18.4数字信号波形显示222

18.5本章练习2

9章数-模混合电路2

19.1本章练习

第20章层电路设计

20.1层电路端口连接器

20.2层电路模块和符号241

20.2.1层模块设置241

20.2.2层模块符号243

20.3参数传递243

20.4层模块网络表244

20.5本章练习245

2章磁元件编辑器262

21.1设计周期262

21.2本章练习262

第22章测试平台279

22.1测试平台器元件选择279

22.2未连接的浮动网络281

2.比较和更新主设计与测试平台设计之间的差异282

22.4本章练习283

第章高级分析292

.1本章简介292

.1.1高级分析元件库294

第24章灵敏度分析295

24.1 灵敏度和相对灵敏度分析296

24.2典型实例296

24.3元件和参数容差分配298

24.4本章练习301

第25章优化分析309

25.1优化引擎309

25.2测量函数310

25.3优化分析设置310

25.4本章练习311

第26章蒙特卡洛分析319

26.1本章简介319

26.2本章练习321

第27章应力分析324

27.1无源元件的应力参数326

27.1.1电阻应力参数326

27.1.2电感应力参数327

27.1.3电容应力参数328

27.2有源元件的应力参数329

27.2.1双极型晶体管329

27.3降额因子332

27.4实例1334

27.5本章练习336

27.6实例9

27.7实例3347

27.8实例4351

附录测量函数定义357

Cadence/ OrCAD软件为设计化（EDA）家族成员之一，该软件提供原理图输入、电路、PCB制板等完整设计流程。首先利用Capture或者Capture CIS中的原理图编辑器绘制电路图；然后利用PSpice对电路进行；利用Cadence Allegro或者PCB Editor将电路原理图转化为印制电路板，其中PCB Editor已取代OrCAD Layout功能。本书结合近期新Cadence/OrCAD 172版本中的功能，可与之前版本软件一起使用。本书中的电路几乎均可使用近期新免费演示精简版软件进行，该版本免费提供，无时间。OrCAD Lite包含完整版的所有主要功能，仅受元器件数量和电路复杂程度。产品更多相关信息请访问OrCAD和Cadence。免费OrCAD Lite版可从OrCAD下载，也可向Cadence公司索取DVD光盘进行安装。OrCAD Lite版相关信息网址如下：http://wwworcadcom/products/orcad-lite-overview。本书适合热衷于Cadence/OrCAD专业软件对电路进行设计与分析的学生或学习使用。本书提供软件操作实用方法，并且每章结尾通过练习对骤逐步分解，直至完成。感谢西伦敦大学的技术人员Keith Pamment和Seth Thomas对练习的校对；感谢Cadence公司的Taranjit Kukal和Alok Tripathi对PSpice技术的审查；感谢Parallel-Systems UK公司对本书出版工作的支持。本书第2版包含近期新的172版本中具有的许多全新功能，再次感谢Cadence Design Systems的Alok Tripathi帮确保文本的技术正确并审阅新章节及其功能。感谢Keith Pamment和Parallel-Systems的Bob Doe，他们为新章节及其功能提供审查和反馈。使 用 说 明本书中粗体字代表指定工具栏按钮操作关键字，同时表示所选菜单，例如建立新项目菜单选项如下： 上述指令操作顺序为File>New>Project。如上图所示，利用粗体字母从顶部工具栏对菜单进行连续选择。本书规定单击鼠标右键缩写为rmb。例如在原理图中选定某元件，然后选择rmb>rotate，即单击右键选择旋转功能。粗体字同样用于命名对话框和对话窗口，例如下面Create PSpice Project建立新项目窗口。 OrCAD演示版近期新OrCAD演示版为OrCAD 172Lite，读者可从如下免费下载或订购：http://wwworcadcom/products/orcad-lite-overviewOrCAD 172 Lite包含完整版的所有主要功能，仅受元器件数量和电路复杂程度的。本书中练习几乎均可使用近期新免费演示精简版软件进行，但与早期版本相比某些功能已经更改。OrCAD 172 LiteOrCAD 172 Lite版软件如下：75个网络节点、20个晶体管、无子电路、65个数字元件、10条传输线（理想或者非理想）、多4对耦合线。模型编辑器只能对二极管模型进行编辑，并且模型导入向导仅支持两引脚元件和模型。包含完整版软件中的参数化元件库以及所有PSpice库。使用Stimulus编辑器生成激励源时无任何。磁元件编辑器只能建立功率变压器模型。另外磁元件编辑器提供的模型数据不能进行编辑，只能进行查看，而且只包括单一磁心模型数据。不能使用Level 3级Core模型（Tabrizi）、MOSFET BSIM 32或MOSFET BSIM模型。 Lite版器不支持PSpice DMI模型。基于OrCAD Capture和PSpice的模拟电路设计与(原书第2版)使 用 说 明不支持IBIS导入。不支持设备模型接口（DMI）。高级分析应力分析——只能使用二极管、电阻、晶体管和电容。优化分析——只能使用随机和MLS引擎；随机引擎仅限于运行5次；多只能优化两个元件参数；仅限于一个测量函数和一条曲线拟合；仅支持一种误差计算方法对曲线拟合进行优化。 参数绘图仪——只能扫描两个全局参数或模型参数；仅支持线扫描；多允许扫描10次；只能对一个测量函数或曲线进行参数变化特评估。 图形显示不可用。蒙特卡洛/坏情况分析——仅允许使用一个测量函数，多支持3个容差器件；多支持20次蒙特卡洛分析。灵敏度分析——只允许使用一个测量函数；多支持3个容差器件；多支持20次运行。不能加密的参数化模型。