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  • 正版新书]集成电路测试技术(含实训任务单)林洁 著97871117830
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    • 作者: 林洁 著著 | 林洁 著编 | 林洁 著译 | 林洁 著绘
    • 出版社: 机械工业出版社
    • 出版时间:2025-07-01
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    • 作者: 林洁 著著| 林洁 著编| 林洁 著译| 林洁 著绘
    • 出版社:机械工业出版社
    • 出版时间:2025-07-01
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 字数:398
    • 页数:172
    • 开本:16开
    • ISBN:9787111783022
    • 版权提供:机械工业出版社
  • 作者: 林洁 著
  • 著: 林洁 著 译
  • 装帧: 平装
  • 印次: 1
  • 定价: 69
  • ISBN: 9787111783022
  • 出版社: 机械工业出版社
  • 开本: 16开
  • 印刷时间: 暂无
  • 语种: 暂无
  • 出版时间: 2025-07-01
  • 页数: 172
  • 外部编号: 庄村25349
  • 版次: 1
  • 成品尺寸: 暂无
  • 前言
    项目1搭建集成电路测试环境项目导读
    1.1知识储备:初识集成电路测试
    1.1.1集成电路测试分类
    1.1.2FT原理及流程
    1.1.3FT常用设备
    1.2创建第一个集成电路测试工程文件
    1.2.1CD4511芯片测试任务描述
    1.2.2CD4511数据手册阅读
    1.2.3认识集成电路测试系统
    1.2.4创建集成电路测试工程文件
    1.2.5测试程序编写说明
    1.3创建集成电路测试工程文件常见错误
    1.4练一练
    1.5拓展知识
    1.5.1测试机编程手册
    1.5.2测试机使用注意事项
    项目2数字芯片典型参数测试项目导读
    2.1知识储备:数字芯片典型参数测试原理及测试工装
    2.1.1开/短路测试原理
    2.1.2漏电流测试原理
    2.1.3输出电平测试原理
    2.1.4电源供电电流测试原理
    2.1.5数字芯片参数测试工装
    2.2对地开/短路测试
    2.2.1对地开/短路测试任务描述
    2.2.2对地开/短路测试任务实施
    2.3对电源开/短路测试
    2.3.1对电源开/短路测试任务描述
    2.3.2对电源开/短路测试任务实施
    2.4输入高电平漏电流测试
    2.4.1输入高电平漏电流测试任务描述
    2.4.2输入高电平漏电流测试任务实施
    2.5输入低电平漏电流测试
    2.5.1输入低电平漏电流测试任务描述
    2.5.2输入低电平漏电流测试任务实施
    2.6输出高电平测试
    2.6.1输出高电平测试任务描述
    2.6.2输出高电平测试任务实施
    2.7输出低电平测试
    2.7.1输出低电平测试任务描述
    2.7.2输出低电平测试任务实施
    2.8电源供电电流测试
    2.8.1电源供电电流测试任务描述
    2.8.2电源供电电流测试任务实施
    2.9参数测试常见错误
    2.10练一练
    2.11拓展知识
    2.11.1职业规范概述
    2.11.28S管理方式
    2.11.3“8个为零”的8S管理成效
    项目3典型数字芯片功能测试项目导读
    3.1知识储备:关键器件及芯片简介
    3.1.1数码管简介
    3.1.274LS48芯片简介
    3.1.374HC157芯片简介
    3.1.474HC393芯片简介
    3.1.574HC283芯片简介
    3.274LS48芯片功能测试
    3.2.174LS48芯片功能测试任务描述
    3.2.274LS48芯片功能测试任务实施
    3.374HC157芯片功能测试
    3.3.174HC157芯片功能测试任务描述
    3.3.274HC157芯片功能测试任务实施
    3.474HC393芯片功能测试
    3.4.174HC393芯片功能测试任务描述
    3.4.274HC393芯片功能测试任务实施
    3.574HC283芯片功能测试
    3.5.174HC283芯片功能测试任务描述
    3.5.274HC283芯片功能测试任务实施
    3.6典型数字芯片功能测试常见错误
    3.7练一练
    3.8拓展知识——两位数码管显示驱动
    项目4模拟芯片典型参数测试项目导读
    4.1知识储备:模拟芯片典型参数测试原理
    4.1.1输入失调电压测试原理
    4.1.2输出短路电流测试原理
    4.1.3共模抑制比测试原理
    4.1.4开环增益测试原理
    4.1.5关键模拟芯片简介
    4.2输入失调电压测试
    4.2.1输入失调电压测试任务描述
    4.2.2输入失调电压测试任务实施
    4.3输出短路电流测试
    4.3.1输出短路电流测试任务描述
    4.3.2输出短路电流测试任务实施
    4.4共模抑制比测试
    4.4.1共模抑制比测试任务描述
    4.4.2共模抑制比测试任务实施
    4.5开环增益测试
    4.5.1开环增益测试任务描述
    4.5.2开环增益测试任务实施
    4.6模拟芯片典型参数测试常见错误4.7练一练
    4.8拓展知识——线性稳压器测试
    4.8.1测试工装准备
    4.8.2LD1117芯片输出电压测试
    4.8.3LD1117芯片负载调整率测试
    项目5运放典型功能测试项目导读
    5.1知识储备:运放典型功能测试原理
    5.1.1同相比例放大电路测试原理
    5.1.2反相比例放大电路测试原理
    5.1.3加法运算电路测试原理
    5.2同相比例放大电路测试
    5.2.1同相比例放大电路测试任务描述
    5.2.2同相比例放大电路测试任务实施
    5.3反相比例放大电路测试
    5.3.1反相比例放大电路测试任务描述
    5.3.2反相比例放大电路测试任务实施
    5.4加法运算电路测试
    5.4.1加法运算电路测试任务描述
    5.4.2加法运算放大电路测试任务实施
    5.5LM358功能测试常见错误
    5.6练一练
    5.7拓展知识——加法运算电路交流输入测试
    项目6综合电路测试项目导读
    6.1知识储备:识读综合电路
    6.2电压调档显示综合练习板测试
    6.2.1电压调档显示综合练习板测试任务描述
    6.2.2电压调档显示综合练习板测试任务实施
    6.3电压采集显示电路测试
    6.3.1电压采集显示电路测试任务描述
    6.3.2电压采集显示电路测试任务实施
    6.4练一练
    6.5拓展知识——LK8300测试系统
    参考文献

    本书立足“岗”——集成电路芯片测试岗位工作任务、“课”——集成电路测试实训、“赛”——全国职业院校技能大赛“集成电路开发及应用”赛项竞赛、“证”——集成电路“1+X”职业技能等级(中级)考证三大内容,校企合作开发任务驱动工单式立体式新形态教材。
    教材在强化集成集成电路测试核心技能与核心知识点的同时,融入思政元素,注重职业素养的养成,综合提升了学生自主创新能力、动手能力、协作能力和职业素养,有助于提高学生的就业水平。

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