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  • 正版新书]集成电路测试技术与实践刘晋东 等 著9787111787457
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    • 作者: 刘晋东 等 著著 | 刘晋东 等 著编 | 刘晋东 等 著译 | 刘晋东 等 著绘
    • 出版社: 机械工业出版社
    • 出版时间:2025-09-01
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    • 作者: 刘晋东 等 著著| 刘晋东 等 著编| 刘晋东 等 著译| 刘晋东 等 著绘
    • 出版社:机械工业出版社
    • 出版时间:2025-09-01
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 印刷时间:2025-08-28
    • 字数:356
    • 页数:224
    • 开本:16开
    • ISBN:9787111787457
    • 版权提供:机械工业出版社
  • 作者: 刘晋东 等 著
  • 著: 刘晋东 等 著 译
  • 装帧: 平装
  • 印次: 1
  • 定价: 59
  • ISBN: 9787111787457
  • 出版社: 机械工业出版社
  • 开本: 16开
  • 印刷时间: 2025-08-28
  • 语种: 暂无
  • 出版时间: 2025-09-01
  • 页数: 224
  • 外部编号: 庄村27743
  • 版次: 1
  • 成品尺寸: 暂无
  • 第1章 绪论
    1.1 集成电路测试技术与实践教学的重要性
    1.1.1 我国集成电路产业发展需要更多的集成电路测试人才
    1.1.2 集成电路测试人才的知识和技能需要通过实践教学培养
    1.2 集成电路测试技术与实践课程体系
    1.2.1 集成电路测试技术与实践教学的目标
    1.2.2 集成电路测试技术与实践课程内容架构
    1.3 本集成电路测试实践教程的特色
    1.3.1 适合作为集成电路测试技术初学者的入门教材
    1.3.2 兼顾研发测试和量产测试的教学内容设计
    1.3.3 匹配工程教育专业认证标准
    1.3.4 利用数字化和智能化技术手段赋能实践教学
    1.4 IECUBE-3839集成电路研发及量产测试通用平台
    1.4.1 当前集成电路测试实训室建设的痛点
    1.4.2 IECUBE-3839使用场景及功能特色
    1.4.3 IECUBE-3839数智化能力介绍
    1.5 IECUBE Online数智化平台
    1.5.1 IECUBE Online研发背景及功能概览
    1.5.2 IECUBE Online过程性实验和实践教学数据记录与评价
    第2章 集成电路测试技术基础
    2.1 集成电路测试的基本概念
    2.1.1 集成电路测试的定义
    2.1.2 集成电路测试的基本原理
    2.1.3 集成电路测试的意义与作用
    2.2 集成电路测试的主要环节
    2.2.1 制定测试方案
    2.2.2 设计测试接口板
    2.2.3 开发测试程序
    2.2.4 分析测试数据
    2.3 集成电路测试的分类、行业现状及发展趋势
    2.3.1 集成电路测试的分类
    2.3.2 集成电路测试行业现状及发展趋势
    2.4 集成电路测试面临的挑战
    2.4.1 行业发展挑战
    2.4.2 测试技术挑战
    2.5 集成电路测试技术基础实践项目:74系列芯片测试
    2.5.1 74系列芯片测试技术概述
    2.5.2 实践项目概述
    2.5.3 任务1:理解74系列芯片测试参数及测试原理
    2.5.4 任务2:74系列芯片手动测试实践
    2.5.5 任务3:74系列芯片自动化测试实践
    第3章 数字集成电路测试技术与实践
    3.1 数字集成电路测试技术概述
    3.1.1 数字集成电路测试中常见的芯片类型
    3.1.2 数字集成电路测试参数类型
    3.1.3 数字集成电路测试仪器
    3.2 数字集成电路测试技术实践项目:存储器芯片测试
    3.2.1 实践项目概述
    3.2.2 任务1:理解存储器测试参数及测试原理
    3.2.3 任务2:存储器手动测试实践
    3.2.4 任务3:存储器自动化测试实践
    第4章 模拟集成电路测试技术与实践
    4.1 模拟集成电路测试技术概述
    4.1.1 模拟集成电路测试中常见的芯片类型
    4.1.2 模拟集成电路测试参数类型
    4.1.3 模拟集成电路测试仪器
    4.2 模拟集成电路测试技术实践项目:集成运算放大器芯片测试
    4.2.1 实践项目概述
    4.2.2 任务1:理解运算放大器测试参数及测试原理
    4.2.3 任务2:运算放大器手动测试实践
    4.2.4 任务3:运算放大器自动化测试实践
    第5章 数模混合集成电路测试技术与实践
    5.1 数模混合集成电路测试技术概述
    5.1.1 数模混合集成电路测试中常见的芯片类型
    5.1.2 数模混合集成电路测试主要参数
    5.1.3 数模混合集成电路测试仪器
    5.2 数模混合集成电路测试技术实践项目:ADC芯片测试
    5.2.1 实践项目概述
    5.2.2 任务1:理解ADC芯片测试参数及测试原理
    5.2.3 任务2:ADC芯片手动测试实践
    5.2.4 任务3:ADC芯片自动化测试实践
    第6章 其他典型电路测试技术与实践
    6.1 SoC测试技术概述及实践项目
    6.1.1 SoC芯片测试技术概述
    6.1.2 SoC芯片测试
    6.2 MEMS测试技术概述及实践项目
    6.2.1 MEMS芯片测试技术概述
    6.2.2 MEMS测试
    6.3 专用芯片测试技术概述及实践项目
    6.3.1 专用芯片测试技术概述
    6.3.2 电力专用计量芯片测试
    6.4 RFIC芯片测试技术概述及实践项目
    6.4.1 RFIC芯片测试技术概述
    6.4.2 RFIC芯片测试
    附录
    附录A 实验报告及成绩考评要求
    附录B IECUBE-3839测试接口板接口定义
    附录C IECUBE-3839外接分选机、探针台等外设扩展接口定义
    参考文献

    刘晋东,北京曾益慧创科技有限公司联合创始人、首席市场及产品官,FPGA研发工程师出身,曾在全球自动化测试测量技术领导者NI任亚太院校合作经理,了解国际工程教育发展和改革趋势,深度参与国内外多所高校集成电路专业和课程建设工作。教育部首批“集成电路设计与集成系统专业”虚拟教研室专家成员、全国大学生集成电路创新创业大赛技术导师委员会专家、国家集成电路创新中心集成电路人才发展委员会专家、中国半导体行业协会集成电路分会人才储备基地专家委员会专家、第三代半导体产业技术创新战略联盟人才发展工作委员会委员。与国内高校老师合作出版6本专著、教材,发表多篇与校企合作人才培养、教学改革相关的论文。

    本书注重理论与实践相结合,并配套电子课件、电子教案、二维码视频、软件工具包、设备资源包丰富的教学资源,辅助教师教学。

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