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  • 正版新书]半导体器件物理实验教程刘晋东 等 编著 编97871117896
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    • 作者: 刘晋东 等 编著 编著 | 刘晋东 等 编著 编编 | 刘晋东 等 编著 编译 | 刘晋东 等 编著 编绘
    • 出版社: 机械工业出版社
    • 出版时间:2025-10-01
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    • 作者: 刘晋东 等 编著 编著| 刘晋东 等 编著 编编| 刘晋东 等 编著 编译| 刘晋东 等 编著 编绘
    • 出版社:机械工业出版社
    • 出版时间:2025-10-01
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 字数:407000
    • 页数:256
    • 开本:16开
    • ISBN:9787111789611
    • 版权提供:机械工业出版社
  • 作者: 刘晋东 等 编著 编
  • 著: 刘晋东 等 编著 编 译
  • 装帧: 平装
  • 印次: 1
  • 定价: 69
  • ISBN: 9787111789611
  • 出版社: 机械工业出版社
  • 开本: 16开
  • 印刷时间: 暂无
  • 语种: 暂无
  • 出版时间: 2025-10-01
  • 页数: 256
  • 外部编号: 庄村25363
  • 版次: 1
  • 成品尺寸: 暂无
  • 前言
    第1章 绪论
    1.1半导体器件物理实验教学的重要性
    1.1.1半导体器件物理的核心地位
    1.1.2半导体器件物理实验教学的意义
    1.2半导体器件物理实验课程体系
    1.2.1半导体器件物理实验教学的目标
    1.2.2半导体器件物理实验课程架构
    1.3半导体器件物理实验教程的特色
    1.3.1注重半导体器件电学测试原理、方法的理解与测试实践技能的培养
    1.3.2兼顾经典和新器件发展趋势的课程内容设置
    1.3.3匹配工程教育专业认证标准
    1.3.4利用数字化和智能化技术手段赋能实验教学
    1.4IECUBE-3835数智化半导体参数实测分析平台
    1.4.1当前半导体物理与器件实验室的痛点
    1.4.2IECUBE-3835使用场景及测试仪器功能
    1.4.3IECUBE-3835数智化能力介绍
    1.5 IECUBE Online数智化平台
    1.5.1IECUBE Online研发背景及功能概览
    1.5.2IECUBE Online过程性实验和实践教学数据记录与评价
    第2章半导体材料属性实验
    2.1半导体材料的霍尔效应测试
    2.1.1实验目的
    2.1.2实验设备及样品
    2.1.3实验背景及原理
    2.1.4测试系统
    2.1.5实验内容
    2.1.6实验注意事项
    2.1.7实验步骤
    2.1.8实验过程中涉及的知识点
    2.1.9实验思考题
    2.2单晶硅非平衡少子寿命的测量
    2.2.1实验目的
    2.2.2实验设备及器件
    2.2.3实验背景及原理
    2.2.4测试系统
    2.2.5实验内容
    2.2.6实验注意事项
    2.2.7实验步骤
    2.2.8实验过程中涉及的知识点
    2.2.9实验思考题
    2.3半导体材料电阻率的四探针法测量
    2.3.1实验目的
    2.3.2实验设备及样品
    2.3.3实验背景及原理
    2.3.4测试系统
    2.3.5实验内容
    2.3.6实验注意事项
    2.3.7实验步骤
    2.3.8实验过程中涉及的知识点
    2.3.9实验思考题
    2.4扩展阅读
    2.4.1第三代半导体代表材料GaN
    2.4.2新型半导体材料测试技术
    第3章二极管特性实验
    3.1PN结的直流特性测试与分析
    3.1.1实验目的
    3.1.2实验设备及器件
    3.1.3实验背景及原理
    3.1.4测试系统
    3.1.5实验内容
    3.1.6实验注意事项
    3.1.7实验步骤
    3.1.8实验过程中涉及的知识点
    3.1.9实验思考题
    3.2肖特基结构的C-V特性与势垒高度测量
    3.2.1实验目的
    3.2.2实验设备及器件
    3.2.3实验背景及原理
    3.2.4测试系统
    3.2.5实验内容
    3.2.6实验注意事项
    3.2.7实验步骤
    3.2.8实验过程中涉及的知识点
    3.2.9实验思考题
    3.3扩展阅读
    第4章双极型晶体管特性实验
    4.1双极型晶体管的直流参数测量
    4.1.1实验目的
    4.1.2实验设备及器件
    4.1.3实验背景及原理
    4.1.4测试系统
    4.1.5实验内容
    4.1.6实验注意事项
    4.1.7实验步骤
    4.1.8实验过程中涉及的知识点
    4.1.9实验思考题
    4.2双极型晶体管特征频率的测量
    4.2.1实验目的
    4.2.2实验设备及器件
    4.2.3实验背景及原理
    4.2.4测试系统
    4.2.5实验内容
    4.2.6实验注意事项
    4.2.7实验步骤
    4.2.8实验过程中涉及的知识点
    4.2.9实验思考题
    4.3扩展阅读
    第5章场效应晶体管特性实验
    5.1场效应晶体管直流交流参数的测量
    5.1.1实验目的
    5.1.2实验设备及器件
    5.1.3实验背景及原理
    5.1.4测试系统
    5.1.5实验内容
    5.1.6实验注意事项
    5.1.7实验步骤
    5.1.8实验过程中涉及的知识点
    5.1.9实验思考题
    5.2MOSFET动态开关特性测试
    5.2.1实验目的
    5.2.2实验设备及器件
    5.2.3实验背景及原理
    5.2.4测试系统
    5.2.5实验内容
    5.2.6实验注意事项
    5.2.7实验步骤
    5.2.8实验过程中涉及的知识点
    5.2.9实验思考题
    5.3MOS结构的低频C-V特性测量与参数表征
    5.3.1实验目的
    5.3.2实验设备及器件
    5.3.3实验背景及原理
    5.3.4测试系统
    5.3.5实验内容
    5.3.6实验注意事项
    5.3.7实验步骤
    5.3.8实验过程中涉及的知识点
    5.3.9实验思考题
    5.4扩展阅读
    第6章专用半导体器件特性实验
    6.1太阳能电池特性测试
    6.1.1实验目的
    6.1.2实验设备及器件
    6.1.3实验背景及原理
    6.1.4测试系统
    6.1.5实验内容
    6.1.6实验注意事项
    6.1.7实验步骤
    6.1.8实验过程中涉及的知识点
    6.1.9实验思考题
    6.2SiC功率器件的特性测试
    6.2.1实验目的
    6.2.2实验设备及器件
    6.2.3实验背景及原理
    6.2.4测试系统
    6.2.5实验内容
    6.2.6实验注意事项
    6.2.7实验步骤
    6.2.8实验过程中涉及的知识点
    6.2.9实验思考题
    6.3忆阻器特性测试
    6.3.1实验目的
    6.3.2实验设备及器件
    6.3.3实验背景及原理
    6.3.4测试系统
    6.3.5实验内容
    6.3.6实验注意事项
    6.3.7实验步骤
    6.3.8实验过程中涉及的知识点
    6.3.9实验思考题
    6.4扩展阅读
    第7章运算放大器实验
    7.1分立器件运算放大器
    7.1.1实验目的
    7.1.2实验设备及器件
    7.1.3实验背景及原理
    7.1.4测试系统
    7.1.5实验内容
    7.1.6实验注意事项
    7.1.7实验步骤
    7.1.8实验过程中涉及的知识点
    7.1.9实验思考题
    7.2集成运算放大器参数测试
    7.2.1实验目的
    7.2.2实验设备及器件
    7.2.3实验背景及原理
    7.2.4测试系统
    7.2.5实验内容
    7.2.6实验注意事项
    7.2.7实验步骤
    7.2.8实验过程中涉及的知识点
    7.2.9实验思考题
    7.3扩展阅读
    附录
    附录A实验报告及成绩考评要求
    附录B推荐配套理论课程教材
    参考文献

    本书注重理论与实践相结合,并配套电子课件、电子教案、二维码视频、设备资源包丰富的教学资源,辅助教师教学。

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