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Sandeep K.Goel是一位就职于加利福尼亚州圣何塞的台积电公司(TSMC)的不错主管(DFT/3D测试)。他在荷兰特文特大学获得他的博士学位。在去TSMC公司之前,他在加利福尼亚州的LSI公司、加利福尼亚州的微捷码设计自动化(Magma Design Automation)公司以及荷兰的飞利浦研究中心从事多项研究和管理职位。他曾经合著过两本书,撰写过3篇书刊文章,并在期刊和会议/研讨会论文集中出版超过80篇论文。他曾经参加过多次邀请演讲并多次成为会议的专题讨论小组成员。他拥有15项美国和5项欧洲并且拥有其他30项申请。他的主要研究领域包括2D/3D芯片的测试、诊断和失效性分析方面的所有课题。Goel博士是IEEE 2010年靠前测试大会上重要论文奖的获奖者。他是多个会议委员会的成员,包括DATE、ETS、ITC、DATA以及3D Test。他曾经是DATE 2012年3D研讨会的大会。他是IEEE的不错会员。
Krishnendu Chakrabarty,于1990年在勒格布尔印度理工学院获得学士学位,分别于1992年和1995年在安阿伯市的密歇根大学获得工程硕士和博士学位。他现在是杜大学电子与计算机工程教授。他也在中国北京的清华大学担任软件理论的首席教授,在中国台湾地区成功大学担任计算机科学与信息工程学的访问首席教授,并且在德国不莱梅大学担任客座教授。Chakrabarty教授是美国国家科学基金会的早期教师(职业)奖(CAREER)的获得者、海军研究办公室青年科学家奖获得者、洪堡基金会的洪堡研究基金奖获得者以及IEEE会议上多个高水平论文奖获得者。
Chakrabarty教授近期的研究项目包括针对集成电路可测性的测试和设计;数字微流控,生物芯片和网络物理系统;以及数字印制和企业系统的优化。在过去的几年里,他还领导了关于无线传感网络、嵌入式系统以及实时操作系统方面的工程。他创作了12本关于这些方面的书籍,在期刊和相关学术会议中发表了超过420篇论文,并且受到超过185次的邀请报告、主题报告和大会报告。他还在重要的靠前学术会议上举行了25次专题报告。Chakrabarty教授是IEEE会士、IEEE计算机学会的核心会员以及ACM的杰出工程师。他曾经是日本学术振兴会(JSPS)的2009受邀会员。他因为杰出的指导获得2008年杜大学研究生院院长奖,因为杰出的指导和建议获得杜大学普莱特工程学院2010卡珀斯和马里昂麦唐纳奖。他在2005~2007年担任IEEE计算机学会的杰出访问学者,在2006~2007年担任IEEE电路与系统学会的杰出讲师。当前,他担任ACM的杰出演讲者、2010~2012年IEEE计算机学会的杰出访问学者以及IEEE电路与系统学会(2012~2013年)的杰出讲师。
Chakrabarty教授是IEEE计算机设计和测试以及ACM期刊中计算系统新兴技术的总编辑,他也是IEEE会刊中集成电路与系统的计算机辅助设计、IEEE会刊中电路与系统Ⅱ和IEEE会刊中生物医学电路与系统的副编辑。他担任电子测试期刊:理论与应用(JETTA)的编者。在过去的几年里,他担任IEEE会刊中VLSI系统、IEEE会刊中集成电路与系统的计算机辅助设计以及IEEE会刊中电路与系统Ⅰ的副编辑。
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