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正版 纯电动汽车IGBT可靠性及健康管理研究 吴华伟,叶从进,张远
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第1章 绪论
1.1 研究背景及意义
1.2 **外研究现状
1.3 本书主要研究内容及结构安排
1.3.1 主要研究内容
1.3.2 本书结构安排
第2章 IGBT的基本工作原理与失效模式
2.1 IGBT基本结构与分类
2.1.1 IGBT的基本结构
2.1.2 IGBT的分类
2.2 IGBT的工作原理及特性
2.2.1 IGBT的工作原理
2.2.2 IGBT模块的运行特性
2.3 IGBT模块的失效模式
2.3.1 与封装相关的失效
2.3.2 与芯片相关的失效
2.4 IGBT状态监测参数对比
2.4.1 结壳稳态热阻
2.4.2 门极信号
2.4.3 关断时间
2.4.4 集射极饱和压降
2.5 本章小结
第3章 IGBT模块寿命的可靠性分析方法
3.1 可靠性基本概念
3.1.1 可靠性的定义
3.1.2 可靠性的概率指标及其函数
3.1.3 可靠性寿命指标
3.2 加速寿命试验
3.2.1 压缩时间试验法
3.2.2 增大应力试验法
3.2.3 加速模型
3.3 IGBT模块应力寿命模型
3.4 IGBT模块寿命分布的分析
3.4.1 可靠性常用分布函数
3.4.2 传统的概率纸及其参数估计
3.4.3 基本假设
3.4.4 寿命分布参数的计算方法
3.5 对数正态分布检验
3.5.1 定性检验分析
3.5.2 定量检验分析
3.6 加速寿命方程的确定
3.7 基于ALTA软件的IGBT模块仿真分析
3.7.1 ReliaSoft可靠性分析软件简介
3.7.2 实验仿真与结果分析
3.8 本章小结
第4章 功率模块IGBT散热分析
4.1 传热学基础
4.2 流体力学和流体动力学基础
4.2.1 雷诺数
4.2.2 流体动力学CFD理论及计算流体力学简介
本书针对绝缘栅双极晶体管(简称IGBT)寿命分布与可靠性分析问题,提出了一种基于双应力加速寿命试验和K-S检验的IGBT模块寿命分布研究方法。该方法首先对IGBT模块寿命做对数正态分布假设,然后利用Kolmogorov-Smirnov检验法对一组双应力恒定应力IGBT加速寿命试验数据进行Weibull、对数正态等分布检验,进而利用加速寿命测试数据分析软件(ALTA)对IGBT加速寿命数据进行仿真分析,结果表明,ALTA加速寿命仿真下的IGBT模块寿命仍服从对数正态分布,进一步验证了所提假设的正确性。该方法对IGBT的寿命分布及可靠性分析具有一定的指导意义。
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