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  • 一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析 张晶威 著 专业科技 文轩网
  • 新华书店正版
    • 作者: 张晶威著
    • 出版社: 清华大学出版社
    • 出版时间:2022-01-01 00:00:00
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         https://product.suning.com/0070067633/11555288247.html

     

    商品参数
    • 作者: 张晶威著
    • 出版社:清华大学出版社
    • 出版时间:2022-01-01 00:00:00
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 印刷时间:2021-11-01
    • 页数:0
    • 开本:其他
    • 装帧:平装
    • ISBN:9787302589235
    • 国别/地区:中国
    • 版权提供:清华大学出版社

    一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析

    作  者:张晶威 著
    定  价:39
    出 版 社:清华大学出版社
    出版日期:2022年01月01日
    页  数:0
    装  帧:平装
    ISBN:9787302589235
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    内容简介

    《一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析》是面向硬件电路与系统的工程技术类书籍,通过对电子工程设计中的实际故障案例分析,帮助读者形成硬件设计流程中电路调测和故障排查的方法体系。从研发设计人员的视角探求硬件电路与系统的测试测量、电路调试、故障分析以及解决方案,内容涵盖时钟、电源、逻辑器件、总线、高速信号、测量技术等常规的硬件电路模块。兼具理论性和工程实用性。 《一板成功——高速电路研发与设计典型故障案例解析》适合作为从事计算机、通信设备、高端仪器制造等行业的电路设计、开发专业工程师、研究人员的技术参考书,也可以作为电子科学技术、电子工程专业高年级本科生和研究生的参考用书。

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