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  • 国际空间站鉴定和验收环境试验要求 李福秋 等 著 专业科技 文轩网
  • 新华书店正版
    • 作者: 李福秋 等著
    • 出版社: 电子工业出版社
    • 出版时间:2017-03-01 00:00:00
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         https://product.suning.com/0070067633/11555288247.html

     

    商品参数
    • 作者: 李福秋 等著
    • 出版社:电子工业出版社
    • 出版时间:2017-03-01 00:00:00
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 印刷时间:2017-03-01
    • 字数:861千字
    • 页数:512
    • 开本:其他
    • 装帧:平装
    • ISBN:9787121306129
    • 国别/地区:中国
    • 版权提供:电子工业出版社

    国际空间站鉴定和验收环境试验要求

    作  者:李福秋 等 著
    定  价:99
    出 版 社:电子工业出版社
    出版日期:2017年03月01日
    页  数:512
    装  帧:简装
    ISBN:9787121306129
    主编推荐

    内容简介

    本手册针对元器件、结构、组件和飞行构件的环境试验,全面规定了靠前空间站各级产品需要开展的鉴定和验收环境试验要求。主要内容包括靠前空间站部/组件的鉴定试验和验收环境试验,参考和引用的文件也与靠前空间站任务发布的方针保持协调一致。本手册可作为航天产品鉴定和验收环境试验的标准规范,为航天产品的试验过程提供了方法和依据,明确了产品在鉴定和验收试环境验过程中具体的试验量级和做法。本手册没有复杂的理论和公式,试验方法描述简明、容易理解,对产品鉴定和验收环境试验中可能出现的例外情况提供了大量的补充说明并强调了相关概念。希望本手册的标准对我国武器装备、航天工程有关技术人员和管理人员开展相关工作具有借鉴作用。

    作者简介

    李福秋,中国航天标准化与产品保证研究院不错工程师,主持和参与过多项科研项目,获得过中船重工集团公司科学技术三等奖、中国人民解放军总装备部军队科技进步三等奖、国防科学技术进步三等奖各一项。

    精彩内容

    目录
    目 录 章 概述 1 1.1 简介 1 1.1.1 目的 1 1.1.2 范围 1 1.1.3 优先权 1 1.1.4 授权 1 1.2 适用文件 1 1.3 试验综述 2 1.3.1 试验要求 2 1.3.2 试验条件公差 2 第2章 鉴定试验 4 2.1 验收和鉴定的关系 4 2.2 元器件鉴定 4 2.2.1 功能试验 5 2.2.2 热真空试验 6 2.2.3 热循环试验 8 2.2.4 正弦振动试验 10 2.2.5 随机振动试验 10 2.2.6 声振动试验 11 2.2.7 热冲击试验 12 2.2.8 加速度试验 12 2.2.9 湿度试验 13 2.2.10 压力试验 14 2.2.11 泄漏试验 15 2.2.12 电磁兼容性试验 18 2.2.13 使用寿命试验 19 2.2.14 电晕/起弧试验 20 2.3 结构鉴定试验 20 2.3.1 静态结构载荷试验 20 2.3.2 模态研究 21 2.4 飞行构件鉴定试验 22 2.4.1 功能试验 22 2.4.2 电磁兼容性试验 23 2.4.3 声振动试验 23 2.4.4 压力/泄漏试验 24 第3章 验收试验 25 3.1 元器件验收试验 25 3.1.1 功能试验 26 3.1.2 热真空试验 26 3.1.3 热循环试验 29 3.1.4 随机振动试验 30 3.1.5 声振动试验 32 3.1.6 压力试验 32 3.1.7 泄漏试验 33 3.1.8 老炼试验 37 3.1.9 氧气兼容性试验 39 3.1.10 电晕/起弧试验 40 3.2 飞行构件验收试验 40 3.2.1 功能试验 41 3.2.2 电磁兼容性试验 42 3.2.3 压力/泄漏试验 42 3.2.4 有毒气体排放试验 43 3.2.5 声噪音产生试验 44 3.2.6 质量属性试验 44 第4章 原型飞行试验 45 4.1 用于飞行的鉴定组件(原型飞行)的使用 45 4.1.1 组件/元器件原型飞行试验 45 4.1.2 组件/元器件原型飞行老炼试验 46 4.1.3 用于飞行的原型飞行组件认证 48 4.2 用于鉴定的飞行(原型飞行)构件的使用 48 4.2.1 飞行构件原型飞行试验 48 4.2.2 用于飞行的飞行构件认证 48 第5章 用于飞行的鉴定试验件的使用 49 第6章 复验 50 6.1 综述 50 6.2 随机振动复验的特殊考虑因素 50 6.2.1 种方法 51 6.2.2 第二种方法 53 第7章 非关键元器件试验 55 7.1 说明 56 7.1.1 必需的试验 56 7.1.2 危险筛选 57 7.1.3 可靠性筛选准则 57 第8章 注释 58 8.1 政府提供的财产 58 8.2 定义 58 8.3 缩略语 62 附录A PG-1批准的例外情况 68 附录B PG-2批准的例外情况 211 附录C PG-3批准的例外情况 296 附录D 政府提供设备批准的例外情况 419 附录E 波音休斯敦公司批准的例外情况 500

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