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材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析 编者:周玉//武高辉 著 大中专 文轩网
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材料分析测试技术:材料X射线衍射与电子显微分析
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周玉、武高辉编著的《材料分析测试技术--材料X射线衍射与电子显微分析(第2版高等学校经典畅销教材)》介绍了用X射线衍射和电子显微技术分析材料微观组织结构的原理、设备及试验方法。内容包括:X射线衍射方向与强度、多晶体分析方法及X射线衍射仪、物相分析、宏观应力测定、晶体的极射赤面投影、多晶体织构分析、透射电镜结构与原理、复型技术、电子衍射、衍衬成像、扫描电镜结构与原理、电子探针显微分析等。同时,简要介绍了离子探针、低能电子衍射、俄歇电子能谱仪、扫描隧道与原子力显微镜及X射线光电子能谱仪等显微分析方法,书末配有实验指导和附录。书中的实例分析注重引入了材料微观组织结构分析方面的新成果。 本书可作为材料科学与工程学科的本科生教材或教学参考书,也可供从事材料研究及分析检测方面工作的技术人员参考。
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