醉染图书材料分析测试技术(刘洪权)9787122403971

绪论1章 X 线物理基础51.1　X线的本质 51.2　X线的产生 61.3　X线谱 71.3.1　连续谱 71.3.2　特征谱 91.4　X线与物质的相互作用 101.4.1　X线的散 101.4.2　X线的吸收 111.4.3　吸收限的应用 121.4.4　X线的衰减 121.5　X线的安全防护 13习题 14第2章 X 线衍理论152.1　晶体学基础 152.1.1　实空间晶体学基础 152.1.2　倒易点阵 212.2　X线衍方向理论 252.2.1　布拉格方程 252.2.2　衍矢量方程 282..　埃瓦尔德球图解法及其在粉末衍应用 29.　X线衍强度理论 30..1　晶胞对 X线的散 30..2　结构因子 33..　实际晶体结构因子计算 35..4　粉末多晶 X线衍的积分强度 36..5　多晶体衍的积分强度公式 38习题 38第3章 X 线的分析方法403.1　多晶 X线衍分析方法 403.1.1　粉末照相法 413.1.2　多晶 X线衍仪法 433.2　单晶 X线衍分析方法 533.2.1　四圆单晶衍仪简介 543.2.2　四圆单晶衍仪的构造 553..　单晶样品的选择 563.2.4　四圆单晶衍仪的晶体结构分析过程 573.3　X线荧光光谱分析法 573.3.1　X线荧光光谱分析的基本原理 583.3.2　X线荧光光谱仪的构造与工作原理 593.3.3　试样制备要求 613.3.4　元素定、定量分析方法及注意事项 6.4　X线收细结构分析方法 633.4.1　XAFS谱 633.4.2　XAFS 实验方法 643.4.3　国内 XAFS光束现状 65习题 66第4章 多晶X 线衍的应用分析674.1　点阵常数精密计算 674.1.1　点阵常数精密计算原理 674.1.2　测量点阵常数的误差来源 694.1.3　外推法消除系统误差 694.1.4　小二乘法 704.1.5　标准样品校正法 714.2　物相定分析 744.2.1　物相定分析基本原理 754.2.2　CD-卡片 754..　物相定分析方法 774.2.4　物相定分析注意事项及局限 14.3　定量分析 814.3.1　定量分析原理 814.3.2　定量分析方法 824.3.3　Jade定量分析过程 854.3.4　定量分析应注意的问题 874.4　Rietveld全谱拟合结构精修简介 874.4.1　Rietveld全谱拟合结构精修原理 884.4.2　Rietveld全谱拟合结构精修步骤 894.4.3　Jade全谱拟合结构精修过程简介 89习题 93第5章 显微学物理基础955.1　历的显微镜 955.1.1　光学显微镜 955.1.2　阿贝成像原理 965.1.3　光学显微镜分辨率极限 975.2　电磁透镜 985.2.1　电磁透镜与光学透镜比较 985.2.2　波波长 995..　电磁透镜结构分析 1005.3　电磁透镜像差对分辨率的影响 1025.3.1　电磁透镜像差 1025.3.2　像差对分辨率的影响 1055.4　电磁透镜的景深和焦长 1065.4.1　电磁透镜的景深 1065.4.2　电磁透镜的焦长 107习题 107第6章 透显微镜结构及其制样要求1086.1　透显微镜结构 1086.1.1　照明系统 1096.1.2　样品室 1096.1.3　成像系统 1116.1.4　成像模式 1126.1.5　观察记录系统 1126.1.6　校准系统 1126.1.7　真空系统 1136.1.8　电路及水冷系统 1136.2　透显微镜应用能 1136.2.1　分辨率 1136.2.2　放大倍数 1136.3　透显微镜样品制备技术 1146.3.1　透显微镜样品制备要求 1146.3.2　块体样品制备技术 1146.3.3　粉末样品制备技术 116习题 116第7章 衍分析技术1177.1　衍基本原理 1177.1.1　衍与 X线衍辨析 1177.1.2　埃瓦尔德球与矢量方程 1187.1.3　衍基本公式 1197.2　衍斑点分析 1217.2.1　单晶衍斑点几何特征及强度 1217.2.2　单晶衍斑点标定 1227..　单晶标准衍谱绘制 1267.2.4　单晶衍斑点分析应用 1277.2.5　多晶衍斑点的标定及应用 1297.3　衍谱 1317.3.1　孪晶衍谱 1317.3.2　超点阵衍谱 1327.3.3　高阶劳厄带 1337.4　衍分析技术 1347.4.1　选区衍分析技术 1347.4.2　微束衍分析技术 1357.4.3　低能衍分析技术 136习题 136第8章 透衬度分析1388.1　衬度 1388.2　质厚衬度像 1398.3　衍衬度像 1418.4　衍衬度的运动学理论 1438.4.1　衍衬度运动学理论基本设 438.4.2　理想晶体的衍强度 1448.4.3　理想晶体衍衬运动学基本方程的应用 1458.4.4　非理想晶体的衍衬度 1498.5　晶体缺陷分析 1508.5.1　堆积层错 1508.5.2　位错 1518.5.3　第二相粒子 1548.6　相位衬度成像 1558.6.1　相位衬度简介 1558.6.2　晶格条纹像的实践观察 1558.6.3　正带轴晶格条纹像 1568.6.4　莫尔条纹 1568.6.5　实验观察莫尔条纹 158习题 161第9章 扫描显微镜1639.1　束与固体样品作用时产生的信号 1639.1.1　背散 1649.1.2　二次 1649.1.3　吸收 1649.1.4　透 1659.1.5　四种信号间关系 1659.1.6　特征 X线 1659.1.7　俄歇 1669.2　扫描显微镜结构和工作原理 1669.2.1　扫描显微镜结构 1669.2.2　扫描显微镜的工作原理 1689..　扫描显微镜的主要能 1689.3　扫描显微镜衬度成像原理与应用 1699.3.1　表面形貌衬度原理 1699.3.2　表面形貌衬度的应用 1719.3.3　原子序数衬度原理及应用 1749.3.4　扫描显微镜样品制备 1759.3.5　扫描显微镜形貌观察与职业规范 176习题 1760章 探针显微分析17710.1　探针的结构和工作原理 17710.1.1　探针的结构 17710.1.2　波谱仪 17910.1.3　能谱仪 18310.2　探针分析方法和应用 18510.2.1　分析方法 18510.2.2　定量分析和校正 18710..　探针的应用 189习题 1901章 热分析技术19111.1　差热分析 19111.1.1　差热分析基本原理 19111.1.2　差热分析仪 19211.1.3　差热分析曲线 19311.1.4　影响差热分析的因素 19511.1.5　差热分析曲线的应用 19511.2　示差扫描量热法 19711.2.1　示差扫描量热法基本原理 19711.2.2　示差扫描量热分析仪 19711..　示差扫描量热分析曲线 19811.2.4　影响示差扫描量热分析的因素 19811.2.5　示差扫描量热分析曲线的应用 19911.3　热重分析 20111.3.1　热重分析基本原理 20111.3.2　热重分析仪 20111.3.3　热重曲线 20211.3.4　影响热重分析曲线的因素 20311.3.5　热重分析的应用 204习题 2062章 综合分析测试案例20712.1　水热合成 SnSe微米片生长机理综合测试分析 20712.2　（Nd，Pr）Hx 和Cu 共掺杂协同调控Nd-Ce-Fe-B晶界相综合测试分析 2111.　三维Ti3C2-TiO2 纳米花复合材料的物相与微观结构综合测试分析 213习题 218参考文献219

刘洪权，山东科技大学硕士导师。承担材料分析测试、材料科学基础等教学工作。完成金属材料工程特色专业建设和材料分析测试技术、金属固态相变原理两门省级精品课程建设；开展了材料分析测试、材料科学基础的MOOC和智慧树线上课程建设。先后主持自然、山东省英才计划项目、山东省自然等省部级项目，获得中国商业联合会一等奖、山东省科技进步二等奖各一项，发表SCI三十余篇。

《材料分析测试技术》介绍了材料物相结构、缺陷、形貌、成分分析中有典型代表的分析测试技术，包括X线衍分析（物相晶体结构种类及含量）、衍分析、显微分析技术、扫描电镜分析技术、探针分析技术、热分析等分析测试方法及应用技术；拓展地介绍了Rietveld全谱拟合结构精修技术、X线单晶衍分析、X线荧光分析、吸收谱分析、复杂衍斑点分析、莫尔条纹分析技术。本书分为绪论（概述分析测试原理、内容等）、X线衍分析技术、显微分析技术、热分析技术和综合案例5个部分。在内容组织上从物理基础到测试理论再到应用技术，简化了理论推导，强化了应用实例分析。在综合案例部分，将材料制备工艺与各项分析测试技术融会贯通。本书可供高等学校材料类专业教学使用，也可供从事材料分析测试的专业人员参考。