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[正版新书][正版]现代电子系统软错误 软错误研究历史和未来发展趋势 单粒子效应发生机制与分类JEDEC标准 门级
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基本信息
书名:现代电子系统软错误
定价:59元
作者:(法)Michael Nicolaidis(M. 尼古拉季斯
出版社:电子工业出版社
出版日期:2016-06-01
ISBN:9787121290978
字数:0
页码:0
版次:1
装帧:平装
开本:16开
商品重量:
内容提要
本书系统阐述了软错误发生的复杂物理过程,全书共分为10章。主要介绍了软错误研究历史和未来发展趋势; 单粒子效应发生机制与分类;JEDEC标准;门级建模与仿真;电路级和系统级单粒子效应建模与仿真;硬件故障注入;采用加速测试与错误率预估技术,评估验证面向空间或地面环境的集成电路;电路级软错误抑制技术;软件级软错误抑制技术;高可靠电子系统软错误性能的技术指标与验证方法。全书总结了过去,预测了未来趋势,阐述了单粒子的翻转物理机制、建模、软错误抑制技术以及业界和学界的研究成果。
作者介绍
韩郑生,中科院微电子研究所研究员/教授,博士生导师,研究方向为微电子学与固体电子学,从事集成电路工艺技术、电路设计方面的工作,曾任工程师,光刻工艺负责人,研究室副主任兼任测试工艺负责人,硅工程中心产品部主任,项目/课题负责人。国家特殊津贴获得者。国家自然基金面上项目评审专家。
目录
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完整描述了软错误产生的复杂物理机制, 涵盖了很多技术领域;详细介绍了合理成本下的软错误降错方法, 括软件技术和硬件技术;讨论了其他可靠性威胁,如波动性、 电磁兼容和加速老化等问题的解决方法。
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