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  • 音像ASIC物理设计要点(美)霍斯鲁·戈尔山
  • 正版
    • 作者: (美)霍斯鲁·戈尔山著 | (美)霍斯鲁·戈尔山编 | (美)霍斯鲁·戈尔山译 | (美)霍斯鲁·戈尔山绘
    • 出版社: 科学出版社
    • 出版时间:2023-06-01
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    • 作者: (美)霍斯鲁·戈尔山著| (美)霍斯鲁·戈尔山编| (美)霍斯鲁·戈尔山译| (美)霍斯鲁·戈尔山绘
    • 出版社:科学出版社
    • 出版时间:2023-06-01
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 字数:160000
    • 页数:168
    • 开本:16开
    • ISBN:9787030754974
    • 版权提供:科学出版社
    • 作者:(美)霍斯鲁·戈尔山
    • 著:(美)霍斯鲁·戈尔山
    • 装帧:平装
    • 印次:1
    • 定价:58.00
    • ISBN:9787030754974
    • 出版社:科学出版社
    • 开本:16开
    • 印刷时间:暂无
    • 语种:暂无
    • 出版时间:2023-06-01
    • 页数:168
    • 外部编号:1202891343
    • 版次:1
    • 成品尺寸:暂无

    章 库 1

    1.1 标准单元 2

    1.2 晶体管尺寸 10

    1.3 输入/输出PAD 13

    1.4 库参数化 19

    1.5 总结 25

    参考文献 27

    第2章 布局规划 29

    2.1 技术文件 30

    2.2 电路描述 32

    . 设计约束 35

    2.4 设计规划 37

    2.5 PAD布局 39

    2.6 电源规划 42

    2.7 宏模块布局 44

    2.8 时钟规划 48

    2.9 总结 50

    参考文献 52

    第3章 布局 53

    3.1 全局布局 54

    3.2 局部布局 60

    3.3 时钟树综合 66

    3.4 功耗分析 73

    3.5 总结 75

    参考文献 77

    第4章 布线 79

    4.1 特殊布线 80

    4.2 全局布线 81

    4.3 详细布线 87

    4.4 寄生参数提取 92

    4.5 总结 104

    参考文献 106

    第5章 验 107

    5.1 功能验 108

    5.2 时序验 110

    5.3 物理验 125

    5.4 总结 128

    参考文献 130

    第6章 测试 131

    6.1 功能测试 133

    6.2 扫描测试 136

    6.3 边界扫描测试 138

    6.4 故障测试 140

    6.5 参数测试 141

    6.6 电流和极低电压测试 142

    6.7 晶圆验收测试 144

    6.8 存储器内建自测试 146

    6.9 并联模块测试 148

    6.10 总结 148

    参考文献 151

    售后保障

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