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  • 半导体材料与器件表征 (美)迪特尔·K·施罗德(Dieter K.Schroder) 著;徐友龙 等 译 大中专 文轩网
  • 新华书店正版
    • 作者: (美)迪特尔·K·施罗德(Dieter K.Schroder) 著;徐友龙 等 译著
    • 出版社: 西安交通大学出版社
    • 出版时间:2017-12-01 00:00:00
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    商品参数
    • 作者: (美)迪特尔·K·施罗德(Dieter K.Schroder) 著;徐友龙 等 译著
    • 出版社:西安交通大学出版社
    • 出版时间:2017-12-01 00:00:00
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 印刷时间:2017-12-01
    • 字数:1114千字
    • 页数:714
    • 开本:16开
    • 装帧:平装
    • ISBN:9787569302189
    • 国别/地区:中国
    • 版权提供:西安交通大学出版社

    半导体材料与器件表征

    作  者:(美)迪特尔·K·施罗德(Dieter K.Schroder) 著;徐友龙 等 译
    定  价:128
    出 版 社:西安交通大学出版社
    出版日期:2017年12月01日
    页  数:714
    装  帧:平装
    ISBN:9787569302189
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    内容简介

    本书是有名微电子学专家,美国亚利桑那州立大学电气、计算机与能源工程学院摄政董事迪特尔·K·施罗德(DIETER K. SCHRODER)教授编著的。《半导体材料与器件表征(第2版1998.6.3)出版后,半导体材料与器件及其相关技术在纳米技术、量子点、量子阱等方面又有了新的巨大进步,迪特尔·K·施罗德教授重新撰写章节并增加了两章内容和260个新的参考资料。本书在每一个章节后增加了额外的习题和复习思考题,使她更像一本教科书。 本书分为12章,具体如下: 靠前章 电阻率 第2章 载流子与掺杂浓度 第3章 接触电阻与肖特基势垒 第4章 串联电阻、沟道长度与宽度、阈值电压 第5章 缺陷 第6章 氧化物与界面陷阱电荷、氧化物厚度 第7章&nbnull

    作者简介

    迪特尔·K·施罗德博士,美国亚利桑那州立大学电气工程系教授。他是亚利桑那州立大学工学院教学很好奖和几个其它教学奖获得者。除了《半导体材料与器件表征》这本书外,施罗德博士也是《优选MOS器件》的作者。

    精彩内容

    目录
    译者序
    第3版序言
    章电阻率
    1.1引言
    1.2两探针与四探针法
    1.2.1修正因子
    1.2.2任意形状样品的电阻率
    1.2.3测量电路
    1.2.4测量误差和注意事项
    1.3晶片图
    1.3.1双注入
    1.3.2调制光反射
    1.3.3载流子光照
    1.3.4光学密度测定(光密度计)
    1.4电阻压型
    1.4.1微分霍尔效应
    1.4.2扩散电阻压型
    1.5非接触测试方法
    1.5.1涡旋电流
    1.6导电类型
    ……

    售后保障

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