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  • 全新正版X线荧光光谱分析9787122430397化学工业出版社
    • 作者: 罗立强,詹秀春,李国会等编著著 | 罗立强,詹秀春,李国会等编著编 | 罗立强,詹秀春,李国会等编著译 | 罗立强,詹秀春,李国会等编著绘
    • 出版社: 化学工业出版社
    • 出版时间:2023-08
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    • 作者: 罗立强,詹秀春,李国会等编著著| 罗立强,詹秀春,李国会等编著编| 罗立强,詹秀春,李国会等编著译| 罗立强,詹秀春,李国会等编著绘
    • 出版社:化学工业出版社
    • 出版时间:2023-08
    • 版次:3
    • 印次:1
    • 字数:413000
    • 页数:344
    • 开本:16开
    • ISBN:9787122430397
    • 版权提供:化学工业出版社
    • 作者:罗立强,詹秀春,李国会等编著
    • 著:罗立强,詹秀春,李国会等编著
    • 装帧:精装
    • 印次:1
    • 定价:128.00
    • ISBN:9787122430397
    • 出版社:化学工业出版社
    • 开本:16开
    • 印刷时间:暂无
    • 语种:暂无
    • 出版时间:2023-08
    • 页数:344
    • 外部编号:13144602
    • 版次:3
    • 成品尺寸:暂无

    章绪论1

    节X线的发现与基本特1

    第二节X线光谱分析3

    一、X线荧光光谱3

    二、X线吸收光谱4

    第三节X线光谱分析装置研发新发展5

    一、能量探测器5

    二、微区XRF分析装置与应用6

    、全X线光谱装置与应用7

    四、实验室小型X线吸收谱测定装置与应用7

    五、当代X线探测技术发展与应用9

    参考文献10


    第二章基本原理12

    节特征X线的产生与特12

    一、特征X线12

    二、特征谱线系13

    三、谱线相对强度15

    四、荧光产额16

    第二节X线吸收17

    一、X线吸收和衰减17

    二、吸收边19

    三、吸收跃变19

    四、质量衰减系数特与计算19

    第三节X线散21

    一、相干散22

    二、非相干散22

    三、吸收、衰减与散作用关系与效应24

    第四节X线荧光光谱分析原理28

    第五节X线衍分析28

    参考文献29


    第三章激发源30

    节常规X线管30

    一、常规X线管结构与工作原理30

    二、连续X线谱33

    三、特征X线谱34

    四、X线管特35

    第二节规X线管38

    一、旋转阳极靶38

    二、液体金属阳极靶38

    三、冷X线管39

    第三节选择激发40

    一、滤光片41

    二、二次靶45

    第四节偏振光激发46

    一、X线偏振效应46

    二、X线偏振靶47

    三、偏振激发应用效果47

    第五节单色光激发47

    第六节同位素源48

    第七节聚束毛细管X线光源49

    第八节X线激光光源51

    参考文献52


    第四章探测器54

    节波长色散探测器54

    、气式正比器54

    二、NaI闪烁器55

    三、波长色散探测器的逃逸峰56

    第二节能量探测器57

    一、能量探测原理57

    二、能量探测器组成与特5

    三、能量探测器的逃逸峰59

    第三节新型能量探测器59

    一、Ge探测器59

    二、SiPIN探测器60

    三、Si漂移探测器62

    四、电荷耦合阵列探测器64

    五、超导跃变微热量感应器64

    六、超导隧道结探测器65

    七、CdZnTe探测器66

    八、钻石探测器67

    九、无定形硅探测器68

    第四节各种探测器能比较69

    一、波长色散与能量色散能力69

    二、探测器分辨率比较69

    三、探测器的选用70

    参考文献72


    第五章X线荧光光谱仪73

    节波长色散X线荧光光谱仪73

    一、X线管、探测器与光谱仪结构73

    二、准直器74

    三、分光晶体与分辨率74

    四、脉冲放大器和脉高分析器75

    第二节能量色散X线荧光光谱仪78

    第三节同位素源激发和偏振激发X线荧光光谱仪79

    一、同位素源激发79

    二、偏振激发79

    第四节全反X线荧光光谱仪80

    一、全反原理与痕量元素分析81

    二、TXRF轻元素分析82

    三、X线驻波原理与层叠物表层及埋层元素组成与分布分析84

    第五节聚束毛细管透镜微束XRF光谱仪89

    第六节X线光谱分析技术发展新趋势、新方向90

    一、新趋势——单色偏振聚焦全反XRF光谱联用分析技术90

    二、新发展——实验室小型X线吸收谱分析装置92

    三、新方向——μ子X线光谱分析102

    参考文献104


    第六章定与定量分析方法106

    节定分析106

    一、判定特征谱线106

    二、干扰识别107

    第二节定量分析109

    一、获取谱峰净强度109

    二、干扰校正109

    三、浓度计算110

    第三节数学校正法111

    第四节实验校正方法112

    一、标准化112

    二、内标法112

    三、标准添加法113

    四、散线内标法113

    第五节实验校正实例——散线校正方法114

    参考文献118


    第七章基体校正119

    节理论荧光强度和基本参数法120

    一、理论荧光强度120

    二、基本参数计算1

    三、基本参数法125

    第二节基本影响系数和理论校正系数126

    一、基本影响系数126

    二、理论校正系数130

    三、系数变换133

    参考文献135


    第八章分析误差和统计不确定136

    节析误差和分布函数136

    一、分析误差136

    二、分布函数137

    第二节统计学137

    第三节灵敏度与检出限140

    一、灵敏度140

    二、检出限141

    第四节误差来源与不确定度计算143

    一、XRF中的误差来源143

    二、测量不确定度144

    三、统计不确定度144

    四、误差传递与不确定度144

    五、不确定度计算式145

    六、平均值的不确定度计算146

    七、统计波动147

    参考文献148


    第九章XRF中的化学计量学方法和应用149

    节曲线拟合与遗传算法149

    一、遗传算法150

    二、遗传算法在XRF中的应用150

    三、不同拟合方法的比较151

    第二节基体校正与神经网络152

    一、神经网络的发展与学习规则153

    二、神经网络模型——误差传学算法154

    罗立强,地质实验测试中心,副主任,教授,博导。1982于长春地质学院岩化系,获工学士学;1987在中国地质科学院部获理学硕士;1997年在上海硅酸盐研究所获工学博士;2003-2005年在加拿大McMaster大学从事博士后研究。1997年批入百名跨世纪科技人才计划。研究领域及研究方向为X线光谱分析技术应用研究、流体地球化学和生物环境地球化学研究。作为项目负责人承担的项目包括:计委重大科学工程项目“中国大陆科学钻探工程”流体地球化学研究;自然科学“知识工程与无标样X线光谱分析体系研究”;自然科学,“神经网络与X线光谱分析研究”,是自然科学重大项目课题“大陆科学钻探孔区地下深部流体与微生物研究”项目负责人。2004年受欧洲X线光谱分析大会邀请赴意大利作特邀报告。已在国内外公开发表各种、著作、译文等70余篇。


    担任中国地质学会岩矿测试专业委员会秘书长,北京市地质学会理事,中国地质科学院科学技术委员会委员,国际《X-Ray Spectrometry》杂志副主编,国际《Journal of Radioanalytical and Nuclear Chemistry》杂志副主编,《岩矿测试》主编,《光谱学与光谱分析》编委。

    《X线荧光光谱分析》(第三版)系统阐述了X线荧光光谱 (XRFS)和X线吸收光谱(XAS)分析基本原理,描述了XRFS光谱仪主要组件与功能,介绍了XRFS定与定量分析方法、元素基体校正理论模型和算法、样品制备技术、仪器基本特和仪器日常维护技术。同时,还根据XRFS的发展,介绍了μ子X线光谱、同步辐与微区X线光谱分析原理与应用,强调了X线光谱分析技术在解决重大科学问题中的支撑作用,并给出了其在生态与环境、地质、冶金、半导体材料、生物、考古等领域的研究进展与应用实例。


    本书可供X线荧光光谱分析工作者学习参考,同时也可作为高等学校分析化学、分析仪器及相关专业师生的参考书。

    第三版修订中,重新撰写了绪论,对XRF基本原理和主要特进行了较大幅度的补充完善;推导了不同时间条件下的XRFS检出限计算公式,以弥补无相关计算式可用的不足;同时,本次修订也扩充了对一些新型XRFS装置的介绍篇幅,较详细介绍了对元素形态分析具有重要价值的XAS原理和小型XAS实验室测定装置,推介了μ子X线光谱分析原理,补充了X线驻波探测原理及其在硅晶半导体材料分析中的应用,提出了偏振-聚焦-单色-全反XRFS分析原理构想;此外,本书专门补充一章,用以阐述和强调XRS在解决重大科学问题中的重要支撑作用。

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