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全新正版半导体光谱分析与拟合计算9787030395665科学出版社
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本书在简要介绍半导体光谱测量基本手段后,比较系统地阐述了几种常用的半导体光谱分析方法,同时对光谱的拟合方法作了理论探讨和具体介绍。
导语_点评_词
《半导体光谱分析与拟合计算(附光盘)(精)》把物理模型、数学方法以及计算机程序三者有机地交融在一起,取得了一些结果。本书将记录这些成功的范例。考虑到半导体材料、器件的发展现状,本书不但涉及了Ⅲ-V及Ⅱ-Ⅵ族体材料的分析,而且还将重点放在薄膜、量子阱、量子线和量子点等瓿材料以及相应的器件上。在大多数的专题论述中,除了描述基本概与理、讨论物理模型外,与书籍不同的是,还给出了光谱计算的例子以及可执行的计算机程序。读者可以通过对程序的直接运行,加深对相关物理概、理及模型的直观认识。由于本书提供的程序已经过作者陆卫、傅英多年的应用和考,有相当的准确和普适,读者完全可以用它们来解决自身面临的半导体光谱分析问题。因此,本书不仅能满足科研和工程技术人员在光谱分析工作中的需要,同时也适用于和大学生在学习半导体光学质时对光谱特的图谱演示。作者期望本书能给广大科技人员、大学教师及学生带来裨益,成为一本工作与学习参考的工具书。
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