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  • 正版 固体薄膜的光学表征
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    • 作者: 编者:(德)奥拉夫·斯坦泽尔//(捷克)米洛斯拉夫·奥里达尔|责编:冯晨|译者:刘华松//刘丹丹著 | 编者:(德)奥拉夫·斯坦泽尔//(捷克)米洛斯拉夫·奥里达尔|责编:冯晨|译者:刘华松//刘丹丹编 | 编者:(德)奥拉夫·斯坦泽尔//(捷克)米洛斯拉夫·奥里达尔|责编:冯晨|译者:刘华松//刘丹丹译 | 编者:(德)奥拉夫·斯坦泽尔//(捷克)米洛斯拉夫·奥里达尔|责编:冯晨|译者:刘华松//刘丹丹绘
    • 出版社: 国防工业音像出版社
    • 出版时间:2020-05-01
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    • 作者: 编者:(德)奥拉夫·斯坦泽尔//(捷克)米洛斯拉夫·奥里达尔|责编:冯晨|译者:刘华松//刘丹丹著| 编者:(德)奥拉夫·斯坦泽尔//(捷克)米洛斯拉夫·奥里达尔|责编:冯晨|译者:刘华松//刘丹丹编| 编者:(德)奥拉夫·斯坦泽尔//(捷克)米洛斯拉夫·奥里达尔|责编:冯晨|译者:刘华松//刘丹丹译| 编者:(德)奥拉夫·斯坦泽尔//(捷克)米洛斯拉夫·奥里达尔|责编:冯晨|译者:刘华松//刘丹丹绘
    • 出版社:国防工业音像出版社
    • 出版时间:2020-05-01
    • 版次:1
    • 印次:1
    • 字数:481000
    • 页数:393
    • 开本:16开
    • ISBN:9787118123173
    • 版权提供:国防工业音像出版社
    • 作者:编者:(德)奥拉夫·斯坦泽尔//(捷克)米洛斯拉夫·奥里达尔|责编:冯晨|译者:刘华松//刘丹丹
    • 著:编者:(德)奥拉夫·斯坦泽尔//(捷克)米洛斯拉夫·奥里达尔|责编:冯晨|译者:刘华松//刘丹丹
    • 装帧:精装
    • 印次:1
    • 定价:198.00
    • ISBN:9787118123173
    • 出版社:国防工业出版社
    • 开本:16开
    • 印刷时间:暂无
    • 语种:暂无
    • 出版时间:2020-05-01
    • 页数:393
    • 外部编号:11224675
    • 版次:1
    • 成品尺寸:暂无

    第一部分 引论与建模
    第1章 引论
    1.1 第一个考虑
    1.2 薄膜表征和质量控制
    1.3 本书的结构
    第2章 多孔氧化锆样品的表征作为光学和非光学表征方法相互作用的例子
    2.1 光学与非光学的薄膜表征
    2.2 基于强度测量的光学表征
    2.3 表征示例:光学和非光学方法之间的相互作用
    2.3.1 光学常数
    2.3.2 光学常数与孔隙率的关系:混合模型
    2.3.3 多孔薄膜的应用
    2.4 结论
    参考文献
    第3章 宽光谱区薄膜表征的通用色散模型
    3.1 简介
    3.2 理论背景
    3.2.1 经典模型
    3.2.2 基于量子力学的模型
    3.2.3 展宽
    3.3 元激发的色散模型
    3.3.1 声子吸收
    3.3.2 价电子激发
    3.3.3 局域态的电子跃迁
    3.3.4 自由栽流子的贡献
    3.3.5 核芯电子激发
    3.4 结论
    参考文献
    第4章 从头计算预测光学特性
    4.1 引言
    4.2 能带结构计算
    4.2.1 量子力学波函数
    4.2.2 密度泛函理论
    4.2.3 交换一关联泛函
    4.2.4 超越DFT
    4.3 光学特性
    4.3.1 Bethe-Salpeter方程
    4.3.2 一般工作流程
    4.4 复杂系统建模
    4.4.1 特殊的准随机结构
    4.4.2 模拟退火
    4.4.3 例:TixSi1-xO2的折射率
    4.5 关于解释结果的几点说明
    4.5.1 预测与实验
    4.5.2 电子与光学带隙
    4.6 结论
    参考文献
    第二部分 分光光度法和椭圆偏振光谱法
    第5章 薄膜的反射光谱成像法光学表征
    5.1 引言
    5.2 反射光谱成像法发展和开发的动机
    5.3 正入射下非显微成像光谱反射测量技术简介
    5.4 ISR技术实验装置
    5.5 成像反射光谱仪
    5.5.1 宽光谱区成像光谱反射仪
    5.5.2 空间分辨率增强的成像反射光谱仪
    5.6 数据采集
    5.7 成像反射光谱仪的主要特点
    5.8 成像反射光谱仪的方法
    5.8.1 单像素ISR法作为独立方法
    ……
    第6章 成像分光光度法的数据处理方法
    第7章 单层膜与多层膜的在线和离线分光光度法表征Ⅰ:基础
    第8章 单层和多层膜的在线和离线分光光度法表征Ⅱ:实验技术和应用实例
    第9章 分层系统的椭圆偏振测量
    第三部分 缺陷和波纹的薄膜表征
    第10章 缺陷薄膜的光学表征
    第11章 光学薄膜的扫描探针显微技术表征
    第12章 共振波导光栅结构
    第13章 深紫外线栅偏振片的偏振控制
    第四部分 散射和吸收
    第14章 光学薄膜的粗糙度与散射
    第15章 光学薄膜中的吸收和荧光测量
    第16章 光学薄膜表征的环形腔衰荡技术

    2008.03-2011.03 同济大学,光学学科,博士研究生,理学博士;2002.09-2005.01 中国航天科工集团第三研究院,光学工程学科,工学硕士; 1998.09-2002.08 哈尔滨工业大学, 电子科学与技术, 本科, 工学学士。

    本书的主要内容包括:第一部分为引论与建模(包括:引论,光学和非光学相互结合的方法表征多孔氧化锆样品,宽光谱区薄膜表征的通用色散模型,从头计算预测光学特性);第二部分为分光光度法和椭圆偏振光谱法(包括:薄膜的反射光谱成像法光学表征,成像分光光度法的数据处理方法,单层膜与多层膜的在线和离线分光光度法);第三部分为缺陷和波纹的薄膜表征(包括:缺陷薄膜的光学表征,光学薄膜的扫描探针显微技术表征,共振波导光栅结构,深紫外线栅偏振片的偏振控制)。全书既讨论了表征技术的优点也没有规避表征技术的缺点。本书对于固体薄膜技术领域内的应用基础研究和工程技术研究具有重要的参考价值,适合从事薄膜技术研究和应用领域的工程技术人员、研究生和高年级本科生阅读和使用,参与固体薄膜表征任务的科学家或工程师都能从本书中获益。

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